浜松光子学株式会社嶋瀬朗获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉浜松光子学株式会社申请的专利半导体检查方法及半导体检查装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115699281B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180041063.X，技术领域涉及：H10P74/00；该发明授权半导体检查方法及半导体检查装置是由嶋瀬朗;毛祥光;内角哲人设计研发完成，并于2021-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体检查方法及半导体检查装置在说明书摘要公布了：本发明的一实施方式的半导体检查方法包含以下步骤：通过对半导体器件扫描激光，对激光的每一照射位置，取得表示与激光的照射相应的半导体器件的电信号的特性的特性信息，基于每一照射位置的特性信息，产生半导体器件的第1图案图像；基于半导体器件的布局图像与表示半导体器件的电流路径的电流路径信息，产生半导体器件的第2图案图像；及基于第1图案图像与第2图案图像的位置对准的结果，取得表示第1图案图像与布局图像的相对关系的匹配信息。
本发明授权半导体检查方法及半导体检查装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体检查方法，其包括： 通过对半导体器件扫描光，对所述光的每一照射位置，取得表示与所述光的照射相应的所述半导体器件的电信号的特性的特性信息，基于所述每一照射位置的所述特性信息，产生所述半导体器件的第1图案图像； 基于表示所述半导体器件的布局的布局图像与表示所述半导体器件的电流路径的电流路径信息，产生所述半导体器件的第2图案图像的步骤；及 基于所述第1图案图像与所述第2图案图像的位置对准的结果，取得表示所述第1图案图像与所述布局图像的相对关系的匹配信息。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人浜松光子学株式会社，其通讯地址为：日本静冈县；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励