香港应用科技研究院有限公司戚大卫获国家专利权
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龙图腾网获悉香港应用科技研究院有限公司申请的专利基于有效区域覆盖的缺陷检测的优化路径规划方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115668292B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202280003171.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于有效区域覆盖的缺陷检测的优化路径规划方法是由戚大卫;王志诚设计研发完成，并于2022-08-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于有效区域覆盖的缺陷检测的优化路径规划方法在说明书摘要公布了：一种可移动的相机沿检查路径移动，用于光学检查物体的检查表面以进行缺陷检测。在规划检查路径时，生成检查表面上的视点集。每个视点都与一个方块区域相关联，当相机位于视点上方来捕捉视野的图像时，该方块区域是相机视野内检查表面的最大区域。方块区域的有效区域由神经网络根据方块区域的三维几何特征进行有利的预测，从而使预测的有效区域对基于捕获图像的缺陷检测有效。有效区域是指其在捕获的图像上的相应区域没有模糊，既没有曝光不足也没有曝光过度。检查路径是根据与视点集相关的各自有效区域确定的。
本发明授权基于有效区域覆盖的缺陷检测的优化路径规划方法在权利要求书中公布了：1.一种计算机实现的方法，用于在物体的检查表面规划检查路径，该检查路径用于引导可移动的相机沿着该检查路径移动，以便对所述检查表面进行光学检查从而进行缺陷检测，该方法包括： 在所述检查表面上生成视点集；单独视点与方块区域相关联；当所述相机位于该单独视点上方以捕捉所述相机的视野的图像时，该方块区域是所述检查表面在所述相机的所述视野内的最大区域； 根据所述方块区域的三维几何特征，通过神经网络预测所述方块区域的有效区域，从而使所预测的有效区域对基于与所述单独视点相关的捕获图像的缺陷检测有效，其中所述神经网络在经过训练后预测所述有效区域；以及 根据与所述视点集相关的多个各自的有效区域确定所述检查路径。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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