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龙图腾网获悉沈阳航空航天大学申请的专利基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115222619B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210741152.1，技术领域涉及：G06T5/90；该发明授权基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法是由傅莉;张兆义;樊金浩;席剑辉;胡为;任艳;陈新禹设计研发完成，并于2022-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法在说明书摘要公布了：本发明涉及目标红外隐身领域，尤其涉及基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法，主要包括：步骤1、非均匀温度分布目标进行红外热图采集；步骤2、消除壁面温度不均产生的温差；步骤3、建立两组“灰度值‑参考温度”数据关系集；步骤4、求解出壁面的修正温度分布集合；步骤5、求解壁面修正的光谱辐射参考亮度和修正误差；步骤6、由修正的目标光谱辐射参考亮度值进一步求解壁面表面红外发射率。本发明根据红外辐射亮度的求解原理，综合考虑目标温度的非均匀分布特性，热图修正得到非均匀温度分布壁面的目标参考辐射修正亮度，进一步求解壁面表面红外发射率，能够提高非均匀温度分布的壁面发射率求解精度。

本发明授权基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法在权利要求书中公布了：1.基于热像仪红外热图修正亮度的壁面发射率求解方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1、使用红外热像仪对非均匀温度壁面目标进行红外热图采集； 步骤2、预处理采集得到的红外热图：消除壁面上两个传感器区域与各自周围壁面的明显温差； 步骤3、对步骤2得到的壁面图像求取两组传感器对应边界区域的灰度平均值，并结合传感器采集到的实际温度，建立两组“灰度值-参考温度”数据关系集合； 步骤4、将预处理的红外热图与步骤3得到的“灰度值-参考温度”数据关系集合对应，求解出壁面的修正温度分布集合； 步骤5、由所述修正温度分布集合求解壁面修正的光谱辐射参考亮度；通过壁面修正的光谱辐射参考亮度与黑体理论光谱辐射亮度对比，求解出修正误差； 步骤6、由修正的目标光谱辐射参考亮度值进一步求解壁面红外发射率； 步骤3中的“灰度值-参考温度”关系如下公式所示： 1 式中，i=1,2,...,m为像素点所在行数，j=1,2,...,n为像素点所在列数，Ti,j为像素点的修正温度，gi,j为像素点的灰度值，gs1为传感器1区域内的灰度平均值，gs2为传感器2区域内的灰度平均值，Ts1为传感器1采集到的参考温度，Ts2为传感器2采集到的参考温度； 步骤5中的由修正温度分布集合求解壁面修正的光谱辐射参考亮度，按照如下公式求解： 2 式中，nt为壁面红外热图修正温度取整后的个数，Trk为第k个取整后的修正温度，Lλbb为λ波长处Trk温度下由黑体光谱辐射公式求解出的理论辐射亮度，Ark为相同修正温度在壁面上所占的面积，Prk为相同修正温度的像素点占比，且nt个Prk数值的总和为1，故上式又可写作： 3 步骤6中壁面表面红外发射率求解如下公式所示： 4 式中，Lλmr为测量亮度数据，Lλrvs为目标修正参考亮度，Lλbg为环境背景光谱辐射亮度。

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