ASML荷兰有限公司M·皮萨伦科获国家专利权
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龙图腾网获悉ASML荷兰有限公司申请的专利使用机器学习来生成用于晶片检查的预测图像的系统和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114521234B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080065924.3,技术领域涉及:G01N23/2251;该发明授权使用机器学习来生成用于晶片检查的预测图像的系统和方法是由M·皮萨伦科;S·A·米德尔布鲁克;M·J·马斯洛;M-C·范拉尔;C·巴蒂斯塔基斯设计研发完成,并于2020-09-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本使用机器学习来生成用于晶片检查的预测图像的系统和方法在说明书摘要公布了:提供了一种使用机器学习来生成用于晶片检查的预测图像的系统和方法。该系统和方法的一些实施例包括获取在被施加到晶片的光致抗蚀剂已被显影之后的晶片;对经显影的晶片的片段进行成像;获取在晶片已被蚀刻之后的晶片;对经蚀刻的晶片的片段进行成像;使用经显影的晶片的成像部分和经蚀刻的晶片的成像片段来训练机器学习模型;以及使用经蚀刻的晶片的成像片段来应用经训练的机器学习模型以生成经显影的晶片的预测图像。一些实施例包括对经显影的晶片的片段进行成像;对经蚀刻的晶片的片段的一部分进行成像;训练机器学习模型;以及应用经训练的机器学习模型以生成经显影的晶片的预测蚀刻后图像。
本发明授权使用机器学习来生成用于晶片检查的预测图像的系统和方法在权利要求书中公布了:1.一种用于生成SEM图像的方法,包括: 获得在晶片已被蚀刻之后的所述晶片的特征的第一图像; 利用经训练的机器学习模型来分析所述第一图像;以及 使用所述机器学习模型来生成基于与所述第一图像的所述特征相对应的对所述晶片的光致抗蚀剂应用的特征的图像,其中: 基于所述晶片的特征的多个图像,训练所述机器学习模型;以及 所述多个图像包括在光致抗蚀剂被施加到所述晶片之后的特征的图像和在所述晶片已被蚀刻之后的对应特征的图像。
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