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龙图腾网获悉深圳国微福芯技术有限公司申请的专利集成电路的死锁检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119476151B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411593648.4，技术领域涉及：G06F30/3308；该发明授权集成电路的死锁检查方法是由刘美华;苏宇;林岩设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路的死锁检查方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种集成电路的死锁检查方法，包括：提取有限状态机；根据每一个状态的可达到的状态生成安全属性，并根据每一个状态转移条件生成活性属性；将所有状态之间存在的转移路径进行标记，安全属性和活性属性通过的转移路径标记为第一标记；遍历转移路径，对于当前遍历到的转移路径，判断其两端的状态是否存在第一标记的转移路径，若不存在，则当前遍历到的转移路径标记为第二标记，如果存在，则判断其两端的状态是否存在从第一标记变为第二标记的转移路径，若存在，则当前遍历到的转移路径标记为第二标记，否则标记为第一标记；根据所有转移路径的标记判断集成电路是否存在死锁。本发明可以采用代价较低的方式有效检查集成电路中的死锁。

本发明授权集成电路的死锁检查方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路的死锁检查方法，其特征在于，包括： 提取集成电路的设计文件中的有限状态机； 确定有限状态机可达到的状态，以及每一个状态的转移条件； 根据每一个状态的可达到的状态生成安全属性，并根据每一个状态转移条件生成活性属性； 将所有状态之间存在的转移路径进行标记，所述安全属性和活性属性通过的转移路径标记为第一标记，其余转移路径标记为暂时标记； 遍历所有转移路径，对于当前遍历到的转移路径，判断其两端的状态是否存在第一标记的转移路径，若不存在，则当前遍历到的转移路径标记为第二标记，如果存在，则判断其两端的状态是否存在从第一标记变为第二标记的转移路径，若存在，则当前遍历到的转移路径标记为第二标记，否则标记为第一标记； 所有转移路径遍历完毕后，根据所有转移路径的标记判断集成电路是否存在死锁，包括：当转移路径的标记存在第二标记时，则判定集成电路存在死锁；当转移路径的标记均为第一标记时，则判定集成电路不存在死锁。

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