买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116777970B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310811735.1，技术领域涉及：G06T7/521；该发明授权基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法是由黄玲玲;杨斯雯;魏群烁;赵睿哲;李昕;张雪;景晓丽;李晓炜;王涌天设计研发完成，并于2023-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法在说明书摘要公布了：本发明公开的一种基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法，属于微纳光学和图像信息提取应用领域。全介质超表面的相位分布依据菲涅耳波带法获得，每个菲涅耳区对应一个具有不同拓扑电荷数的螺旋相位，从内到外依次增加，生成双螺旋点扩散函数。将超表面置于4f系统的频谱面上，在其前后分别放置一对线性偏振器和四分之一波片，实现相应圆偏振光选择，确保基于几何相位调制原理的相位调制，获得所设计的实现深度测量与边缘提取的超表面光学系统。非相干光入射时，通过使用图像倒频分析法提取“孪生像”所对应的双螺旋点扩散函数主瓣旋转角度，反推出物体的深度信息。相干光入射时，入射光与超表面的中心部分相互作用，通过目标物体与螺旋相位的卷积，能够实现针对相位振幅均匀区域的相干相消，提取目标物体的边缘信息。本发明能够实现深度测量和边缘提取。

本发明授权基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法在权利要求书中公布了：1.基于单个全介质超表面的深度测量与边缘提取方法，其特征在于：包括如下步骤， 步骤一、基于菲涅耳波带法设计全介质超表面的相位分布，该相位分布由一系列菲涅耳波带组成，每个菲涅耳波带对应一个具有不同拓扑电荷数的螺旋相位，从内到外依次增加；通过所述相位分布生成双螺旋点扩散函数，且中间区域具备螺旋相位特征； 步骤二、采用严格耦合波分析法或时域有限差分法优化组成超表面的介质纳米天线，通过几何相位调制原理利用介质纳米天线的面内方向角实现超表面的相位分布编码； 步骤三、通过沉积、光刻、剥离、蚀刻方法将介质纳米天线构成的全介质超表面加工在玻璃基底上；将全介质超表面置于4-f系统的频谱面，并通过在其前后分别放置一对线性偏振器和四分之一波片，实现相应圆偏振光的选择，确保基于几何相位调制原理的相位调制，获得所设计的用于实现深度测量与边缘提取的超表面光学系统； 步骤四、非相干光入射下，使用步骤三构建的超表面光学系统，记录点光源所处深度位置发生变化时该超表面光学系统所产生的双螺旋点扩散函数的主瓣旋转角度的对应变化，实现距离-角度关系的标定； 步骤五、非相干光入射下，物体通过步骤三构建的超表面光学系统，成像为一对“孪生像”，通过使用图像倒频分析法提取“孪生像”所对应的双螺旋点扩散函数主瓣旋转角度，反推出物体的深度信息； 步骤六、相干光入射下，物体通过步骤三构建的超表面光学系统，超表面中心区域相对原点对称的任意两个点具有相同的振幅，但相位相差π；通过物体与螺旋相位的卷积，相位振幅均匀的区域将因相消干涉相干相消，只留下高对比度的区域，实现边缘提取。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京理工大学，其通讯地址为：100081 北京市海淀区中关村南大街5号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。