意法半导体国际有限公司V·M·夏尔马获国家专利权
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龙图腾网获悉意法半导体国际有限公司申请的专利用于测试比较器的方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114578205B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111436600.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权用于测试比较器的方法和设备是由V·M·夏尔马;D·巴兰瓦尔;A·潘迪设计研发完成，并于2021-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于测试比较器的方法和设备在说明书摘要公布了：本公开的实施例涉及用于测试比较器的方法和设备。一种用于片上系统SoC的设备，该设备包括：比较器，包括第一输入端口、第二输入端口和输出端口。第一输入信号和第二输入信号被划分成N个比特对，该N个比特对包括来自第一输入信号的一个比特和来自第二输入信号的一个比特。该比较器被配置为使得第一输入信号与第二输入信号之间的失配导致输出信号呈现第一预期状态。该设备还包括测试控制器，该测试控制器用于通过使N个比特对失配并验证输出信号呈现第一预期状态来执行第一可操作性测试。
本发明授权用于测试比较器的方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种用于片上系统SOC的内置自测试设备，所述内置自测试设备包括： 比较器，设置在所述SOC上，并且包括： 第一输入端口，用于接收第一输入信号； 第二输入端口，用于接收第二输入信号； 输出端口，用于产生输出信号； 其中所述第一输入信号和所述第二输入信号被划分成N个比特对，每个比特对包括来自所述第一输入信号的一个比特和来自所述第二输入信号的一个比特；并且 其中所述比较器被配置为使得所述第一输入信号与所述第二输入信号之间的失配导致所述输出信号包括第一预期状态；以及 测试控制器，设置在所述SOC上，并且与所述第一输入端口、所述第二输入端口和所述输出端口耦合，所述测试控制器被配置为通过以下来执行第一可操作性测试：生成针对所述N个比特对中的每个比特对的失配，并响应于针对所述N个比特对中的每个比特对的所述失配来验证所述输出信号包括所述第一预期状态。
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