上海玫克生储能科技有限公司顾单飞获国家专利权
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龙图腾网获悉上海玫克生储能科技有限公司申请的专利一种锂电池SEI膜变化模拟方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116305911B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310239118.9，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种锂电池SEI膜变化模拟方法、系统及存储介质是由顾单飞;魏琼;严晓;赵恩海;韦良长;李倩;张晨;江铭臣;陈思元设计研发完成，并于2023-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种锂电池SEI膜变化模拟方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种锂电池SEI膜变化模拟方法、系统及存储介质，其方法包括步骤：将电池物化参数和实际工况数据输入热耦合电化学模型中，生成所述热耦合电化学模型的参数辨识结果；根据所述热耦合电化学模型的参数辨识结果计算SEI膜过电位；根据所述SEI膜过电位和预设的析锂副反应的BV方程计算SEI膜析锂量；根据所述SEI膜析锂量分别计算SEI膜厚度变化参量和SEI膜阻抗变化参量。本发明可以有效提高预测锂电池SEI膜变化情况的精确度。
本发明授权一种锂电池SEI膜变化模拟方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种锂电池SEI膜变化模拟方法，其特征在于，包括步骤： 将电池物化参数和实际工况数据输入热耦合电化学模型中，生成所述热耦合电化学模型的参数辨识结果； 根据所述热耦合电化学模型的参数辨识结果计算SEI膜过电位； 根据所述SEI膜过电位和预设的析锂副反应的BV方程计算SEI膜析锂量； 根据所述SEI膜析锂量分别计算SEI膜厚度变化参量和SEI膜阻抗变化参量； 其中，所述的根据所述SEI膜过电位和预设的析锂副反应的BV方程计算SEI膜析锂量，具体包括： 根据预设的单电池差异参数与预设的析锂不可逆参数的修正预设的所述析锂副反应的BV方程； 根据所述SEI膜过电位和修正后所述析锂副反应的BV方程计算所述SEI膜析锂量，公式如下： ； ； 其中，为参考交换电流密度、γ为用于表征由于工艺、批次原因引起的单电池间的个体差异的所述单电池差异参数、为表征析锂不可逆性的所述析锂不可逆参数、k为参考反应系数、Cref为参考浓度、Ce为液相浓度、αa为无量纲的浓度依赖指数。
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