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龙图腾网获悉南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院申请的专利一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116245725B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310008070.0，技术领域涉及：G06T3/4053；该发明授权一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法是由李根;李泷杲;黄翔;周蒯;楼佩煌;宋允辉;钱晓明设计研发完成，并于2023-01-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法，所述用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法包括步骤如下：S1：首先生成用于训练神经网络的孔轴装配超分辨率图像训练数据集；S2：构造用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率神经网络结构，本发明一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法，设计了针对孔轴结构图像的超分辨率数据采集方法，解决了降采样数据集带来的训练效果不佳的问题；提出了以EEDBB作为核心结构的EESR，新的超分辨率网络结构在提升位姿测量精度上具有优势。

本发明授权一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法在权利要求书中公布了：1.一种用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法，其特征在于，所述用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率图像构建方法包括步骤如下： 步骤S1：首先生成用于训练神经网络的孔轴装配超分辨率图像训练数据集； 步骤S2：构造用于孔轴高精度装配位姿测量的超分辨率神经网络结构； 所述步骤S2的神经网络结构层次为：1个卷积层、24个残差块、8个EEDBB层、1个卷积层、1个上采样层和1个卷积层； 所述EEDBB层输出按照以下公式进行： R c =Rn+Rin+Rs+Rl 式中Rn是输入图像经过一般卷积后输出的图像，用于保证神经网络结构的基础性能；Rin是输入图像经过捷径连接输出的图像，用于实现残差；Rs是包括横向和纵向Sobel滤波器的算子，Rs=SxWsx+SyWsy，其中Sx和Sy是横向和纵向的Sobel滤波器，Wsx和Wsy是与Sobel滤波器进行卷积的系数，是卷积运算符；Rl是包含Laplacian滤波器的算子，Rl=LxWlx，其中Lx是Laplacian滤波器，Wlx是与Laplacian滤波器进行卷积的系数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院，其通讯地址为：210016 江苏省南京市御道街29号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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