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龙图腾网获悉成都数之联科技股份有限公司申请的专利一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115880520B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211417071.2，技术领域涉及：G06V10/764；该发明授权一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法及系统是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法及系统，涉及缺陷检测领域，所述方法步骤为：1获取缺陷样本集；2基于缺陷样本集训练缺陷检测模型；3通过缺陷检测模型输出目标框；4基于目标框获取缺陷轮廓图像；5设置标准模板，并且提取标准模板对应的特定电路结构；6综合缺陷类别、缺陷轮廓图像尺寸、缺陷与特定电路结构的位置关系进行缺陷等级分类。本发明在深度学习模型检测结果的基础上，使用图像轮廓提取算法在目标框和整图中分割提取缺陷和特定电路结构，用以计算缺陷尺寸和二者空间位置关系，综合考虑得出缺陷等级；能显著增强模型判图的准确率，为后续的缺陷影响评估和修补工艺选择提供依据。

本发明授权一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于模板匹配和缺陷分割的缺陷等级分类方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 基于缺陷图像P0获取缺陷样本，并且对缺陷样本进行样本标注，得到缺陷样本集； 构造缺陷检测模型M，并且基于缺陷样本集对缺陷检测模型M进行模型训练； 将待预测图像P1输入缺陷检测模型M，通过缺陷检测模型M输出包含缺陷类型和位置信息的目标框Bbox； 基于所述目标框Bbox对待预测图像P1进行缺陷轮廓图像提取，得到缺陷轮廓图像； 基于缺陷图像P0获取PS孔、PS柱、Gate线、Common线的特定电路结构作为标准模板，并且在待预测图像P1中提取标准模板对应的特定电路结构； 综合缺陷类别、缺陷轮廓图像的尺寸、缺陷与特定电路结构的位置关系进行缺陷等级分类； 其中，所述方法综合缺陷类别、缺陷轮廓图像尺寸、缺陷与特定电路结构的位置关系进行缺陷等级分类的流程如下： 预设缺陷类别、缺陷轮廓图像尺寸、缺陷与特定电路结构位置关系对应的权重值； 基于权重值对缺陷类别、缺陷轮廓图像尺寸、缺陷与特定电路结构位置关系的相关参数进行加权求和，并且基于加权求结果进行缺陷等级分类； 其中，所述方法基于权重值对缺陷类别、缺陷轮廓图像尺寸、缺陷与特定电路结构位置关系的相关参数进行加权求和，并且基于加权求结果进行缺陷等级分类的流程如下： 预设不同的缺陷类别对应的参考基数以及特定电路结构分别为PS孔、PS柱、Gate线、Common线对应的参考基数； 判定缺陷是否与PS孔、PS柱、Gate线、Common线相交，如果相交，则获取对应的参考基数； 基于缺陷类别的参考基数、特定电路结构的参考基数以及缺陷轮廓图像尺寸进行加权求和。

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