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龙图腾网获悉合肥本源量子计算科技有限责任公司申请的专利一种测试方法和测试结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115036230B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210737285.1，技术领域涉及：H10P74/00；该发明授权一种测试方法和测试结构是由赵勇杰;李松;李业;贾健豪设计研发完成，并于2022-06-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测试方法和测试结构在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测试方法和测试结构，属于量子芯片制造领域。测试方法基于倒装互连测试组件进行测量而实现。其中的倒装互连测试组件包括用以倒装互连的倒装单元。倒装单元提供测量线，且倒转单元倒转互连后形成与测量线连接的互连单元。其中的倒装单元给出能够表征前述互联单元的模拟间距的第一排布图形。因此，通过由测量线和互连单元构成且相邻的两个测试单元的测量线进行是否短路的测量，就可以根据测量的结果判断互连单元的排布是否合理或更优。由此，采用上述测试结构和测试方法可以对理论设计的倒装互连方案进行验证性的检测，以便获得理想的倒装互连方案。

本发明授权一种测试方法和测试结构在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，用于确定倒装互连组件中分立的互连结构之间的目标间距，其特征在于，所述测试方法包括： 提供至少一个倒装互连测试组件，所述倒装互连测试组件由倒装单元经倒装互连制作而成，每个倒装互连测试组件具有至少两个测试单元，每个测试单元包括互连单元和测量线，所述测量线由所述倒装单元提供，所述互连单元与所述测量线连接，所述倒装单元给出第一排布图形，且所述第一排布图形表征所述互连单元的至少一种模拟间距，所述模拟间距由相邻的两条测量线所分别对应的互连单元界定； 对全部的测试单元进行测量操作，并基于测量结果为否的测量操作而从所述至少一种模拟间距中获得满足第一预设条件的模拟间距作为所述目标间距；其中，所述测量操作包括测量相邻的两个测试单元的测量线是否短路； 所述第一排布图形表征互连单元的至少一种模拟间距中的所述模拟间距的种数为至少两个； 所述第一预设条件包括：当测量结果为否的测量操作的数量为一个时，所述目标间距为所述测量结果为否的测量所对应的模拟间距； 或者，所述第一预设条件包括：当测量结果为否的测量操作的数量为复数个时，所述目标间距是所述测量结果为否所对应的模拟间距中的最小值。

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