北京海瑞克科技发展有限公司宁军伟获国家专利权
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龙图腾网获悉北京海瑞克科技发展有限公司申请的专利一种逻辑芯片测试实验装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223784445U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202520296105.X,技术领域涉及:G01R31/317;该实用新型一种逻辑芯片测试实验装置是由宁军伟;梁光胜;徐婷婷设计研发完成,并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种逻辑芯片测试实验装置在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种逻辑芯片测试实验装置,涉及逻辑芯片的测试实验领域,包括外部输入单元、内部输入单元、继电器切换开关单元、控制指令转换单元、液晶控制单元、测试芯片单元、输出测量单元、供电单元。本实用新型所述的一种逻辑芯片测试实验装置,使用数字源表作为输入源以及输出测量仪表;数字源表能够提供稳定的电压或电流输出,作为逻辑芯片的输入信号源,通过精确控制输入信号的大小和变化,可以模拟实际工作环境中的逻辑芯片输入条件,从而验证芯片在不同输入条件下的性能和稳定性,在逻辑芯片输出端,数字源表可以同时作为高精度的电压表或电流表,实时测量芯片的输出信号。
本实用新型一种逻辑芯片测试实验装置在权利要求书中公布了:1.一种逻辑芯片测试实验装置,包括外部输入单元1、内部输入单元2、继电器切换开关单元3、控制指令转换单元4、液晶控制单元5、测试芯片单元6、输出测量单元7、供电单元8,其特征在于:所述外部输入单元1、内部输入单元2与继电器切换开关单元3电性连接,所述继电器切换开关单元3与供电单元8、控制指令转换单元4电性连接,所述控制指令转换单元4与液晶控制单元5电性连接,所述供电单元8与测试芯片单元6电性连接,所述测试芯片单元6与继电器切换开关单元3、输出测量单元7电性连接。
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