重庆市计量质量检测研究院吴禹获国家专利权
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龙图腾网获悉重庆市计量质量检测研究院申请的专利一种DIC系统用校准装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223783581U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520176624.2，技术领域涉及：G01B11/16；该实用新型一种DIC系统用校准装置是由吴禹;薛瑞;淦登科;唐依文;吴颖;任延飞设计研发完成，并于2025-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种DIC系统用校准装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种DIC系统用校准装置，包括力标准机，用于DIC系统进行非接触三维应变测量的应变标准板，所述应变标准板的两端通过万向铰接机构连接在所述力标准机的上下夹头之间；所述应变标准板上设置有用于进行线性测量和转角测量的双光路激光干涉系统，所述双光路激光干涉系统包括双光路激光干涉仪，以及竖向正对地安装在所述应变标准板上下两端的分光镜组和反射镜组，所述分光镜组和反射镜组之间形成测量区域；所述双光路激光干涉仪用于进行所述分光镜组和反射镜组之间的线性测量和转角测量。本实用新型具有结构设计合理，操作使用方便，能够对DIC测量系统进行校准等优点。
本实用新型一种DIC系统用校准装置在权利要求书中公布了：1.一种DIC系统用校准装置，其特征在于，包括力标准机1，用于DIC系统进行非接触三维应变测量的应变标准板2，所述应变标准板2的两端通过万向铰接机构3连接在所述力标准机1的上下夹头之间；所述应变标准板2上设置有用于进行线性测量和转角测量的双光路激光干涉系统4，所述双光路激光干涉系统4包括双光路激光干涉仪41，以及竖向正对地安装在所述应变标准板2上下两端的分光镜组42和反射镜组43，所述分光镜组42和反射镜组43之间形成测量区域；所述双光路激光干涉仪41用于进行所述分光镜组42和反射镜组43之间的线性测量和转角测量。
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