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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619014B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411731050.7，技术领域涉及：G01N21/19；该发明授权一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法是由王飞;岳卓言;刘俊岩;陈家烨;王永辉;宋鹏;孟祥林;何明键;齐宏;陈明君;岳洪浩设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法，属于光热科学与探测及信号处理技术领域，解决了目前纳米单颗粒难以观测、物理化学特性获取难度大的问题，具体包括：明确待检测样品，制备玻片样品；开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器；开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器；设置检测参数，设置激光功率电流参数，设置调制参数，对检测样件进行扫描检测；加载磁场；计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像；改变不同的激光参数和磁场大小，重复上述步骤，获得圆二色、磁圆二色检测结果，进行磁化曲线测量以及对单纳米颗粒磁矩翻转过程监测。

本发明授权一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法，其特征在于，所述一种基于左、右旋偏振调制的Fe3O4纳米颗粒显微成像检测方法的步骤包括： 步骤1：将待测样品溶液滴至玻片中制备玻片样品并放置于样品台上，将样品台放置于XYZ压电台上； 步骤2：开启计算机、数据采集卡、锁相放大器、振镜控制器和函数发生器； 步骤3：开启激发光、探测光激光器电源以及制冷器，控制使激光器电源工作温度维持到20℃； 步骤4：设置检测参数、激光功率电流参数和调制参数，对待测样品进行扫描检测，将样品检测信号聚焦到探测器上； 步骤4具体包括： 步骤4.1：发射波长为532nm的激发光经过半波片与偏振立方3进行连续功率调节，功率调节的激光后通过空间滤波器实现光束整型，并通过电光调制器与光弹调制器双偏振调制后进入多调制方式电路，其中，多调制方式电路包括圆偏振调制电路、光强调制电路和线偏振调制电路； 步骤4.1中圆偏振调制电路用于获取圆二色检测结果，包括从左到右依次设置的14波片和扩束系统； 光强调制电路用于获取光热检测结果，包括从左到右依次设置的两个平行的14波片、扩束系统和偏振片； 线偏振调制电路用于获取光热线二色检测结果，包括从左到右依次设置的两个平行的14波片和扩束系统； 步骤4.2：根据多调制方式电路的调制模式输出对应调制的激发光，采用扩束系统对激发光进行扩束，利用凸透镜将光束聚焦在物镜的后焦面，通过热透镜的热透效应产生带有样品信息的反射得到散射探测光，散射探测光经二向色镜反射并通过14波片反射到偏振立方1； 步骤4.3：发射波长为780nm的激发光经过半波片与偏振立方2进行连续功率调节，功率调节的激光通过空间滤波器及反射镜反射偏振立方1，并和散射探测光混合后与偏振立方1发生透射，经过长通滤波片与凸透镜，将样品检测信号聚焦在探测器上； 步骤5：加载磁场，将检测信号通过探测器传输至锁相放大器进行信号解调，将解调后的信号传输至数据采集卡； 步骤6：计算机从数据采集卡中读取信号得到光热检测结果图像； 步骤7：改变输入激光功率和磁场大小，重复步骤4-6，获取圆二色、光热线二色和磁圆二色检测结果； 步骤8：对光热检测结果图像中的Fe3O4纳米颗粒进行磁化曲线测量，得到单纳米颗粒磁矩大小并对单纳米颗粒磁矩翻转过程进行监测； 步骤9：试验结束间隔5分钟后关闭激光器电源、函数发生器、锁相放大器、数据采集卡、振镜控制器以及计算机等设备。

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