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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119223477B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411316445.0，技术领域涉及：G01K7/18；该发明授权一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针及测量方法是由马宏伟;李泽涛设计研发完成，并于2024-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针及测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于动态温度测试技术领域，具体涉及一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针，包括探针头部、探针支杆、两块薄膜铂电阻、两个引线孔。探针头部呈半圆球状，正对主流形成垂直切面，两块薄膜铂电阻在切面上沿探针轴线布置，其引线通过位于薄膜铂电阻后的引线孔引出，采用四线制连接方式，探针支杆的圆柱面与垂直切面之间呈维多辛斯基曲线状，本发明提出的校准、测量数据处理方法，大大提高了探针的测量频响和测量精度，适用于测量叶轮机械进、出口及级间瞬态温度场，能够快速、精确地测量叶轮机械在不同工况下的瞬态温度变化，为叶轮机械瞬态温度测量提供技术手段。

本发明授权一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双薄膜铂电阻的动态总温探针的数据处理方法，所述探针由探针头部1、探针支杆2、上薄膜铂电阻3、下薄膜铂电阻4、两个引线孔67组成，其特征在于：探针头部1呈半圆球状，探针头部1正对主流侧形成垂直切面；切面上沿轴线开有上引线孔6和下引线孔7，分别安装上薄膜铂电阻3和下薄膜铂电阻4；薄膜铂电阻的导线通过对应的引线孔引出；探针支杆2的侧面与垂直切面之间采用维多辛斯基曲线5连接，探针支杆2沿轴向内部开有圆形管道8； 探针头部1圆柱体的直径d，d的取值范围为2毫米≤d≤10毫米，探针头部为曲线旋转体，曲线旋转体选择圆弧线、维多辛斯基曲线或圆锥曲线进行旋转而成，曲线设计有助于气流平滑地绕过探针头部，避免产生紊流和涡流，减少探针对流场的影响，提高测量精度，确保测量的准确性； 探针头部1圆柱体正对主流侧形成垂直切面；切面的厚度为y，y的取值范围为1毫米≤y≤5毫米；切面沿轴线的高度为z，z的取值范围为10毫米≤z≤15毫米，切面更好得使气流滞止，提高测量精度，且切面为薄膜铂电阻的安装提供了一个平面，固定和引线更加方便和可靠； 探针头部1采用绝缘绝热材料，减少测量时的导热误差，提高探针的测量精度和频响； 垂直切面上沿轴线开有上引线孔6和下引线孔7，两引线孔等大，引线孔直径为b，b的取值范围为0.2毫米≤y≤1毫米；圆心距为x，x的取值范围为0.5毫米≤y≤1.5毫米； 上薄膜铂电阻3和下薄膜铂电阻4分别安装在上引线孔6和下引线孔7，上薄膜铂电阻3和下薄膜铂电阻4材料、大小相同，上薄膜铂电阻3和下薄膜铂电阻4均采用微型四线制薄膜铂电阻，长度：0.5毫米到3毫米，宽度：0.1毫米到1.5毫米，厚度：0.01毫米到0.2毫米，四线制测量能有效消除引线电阻对测量结果的影响，提高测量精度，保证数据的稳定性和准确性； 探针支杆2的侧面与垂直切面之间采用维多辛斯基曲线5连接，减少气流在探针表面的干扰，使测量流场流体更平滑地绕过探针，这种均匀的流体流动使得热量更均匀地传递，从而减少了局部过热的风险，减少探针对测量流场的干扰，提高测量精度； 探针支杆2沿轴向内部开有圆形管道8，圆形管道直径为a，a的取值范围为1毫米≤a≤8毫米，薄膜铂电阻导线穿过引线孔后经圆形管道8与外界采集设备相连； 在校准风洞中对所述双薄膜铂电阻的动态总温探针进行宽范围校准，校准速度范围为0.1马赫至1.4马赫，偏转角范围为-80°至80°，俯仰角范围为-40°到40°，风洞试验校准时，通过使用两片薄膜铂电阻同时进行温度测量，两片薄膜铂电阻用信号发生器提供不同的恒定电流，两片电阻初始温度不同，但拥有同样的对流传热表面传热系数h，即可获得不同工况下两块薄膜铂电阻的热流密度之比，定义热流密度之比为C，并满足如下方程： q1＝hTt-Tw1 q2＝hTt-Tw2 式中，q1、q2——薄膜铂电阻的热流密度，单位Wm2；Tw1、Tw2——薄膜铂电阻测量的温度，单位K；Tt——校准风洞来流总温，单位K，通过上述校准方法即可获得不同校准工况下的热流密度之比C； 试验测量时，在已知来流工况情况下，可由校准数据查得对应的热流密度之比C，由测得的Tw1、Tw2数据，通过下列公式计算得到被测气流总温Tg： 基于双薄膜铂电阻的动态总温探针，通过标定试验获得温度解析传递函数系数，构建双薄膜铂电阻动态总温探针的测温传递函数，重构被测流场的气流总温，测量时只需获得来流参数，无需了解被测介质的物性参数。

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