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龙图腾网获悉北京自动化控制设备研究所申请的专利一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119104085B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411041211.X，技术领域涉及：G01C25/00；该发明授权一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置与方法是由尚克军;雷明;李豪伟;刘淑荣;张丽哲设计研发完成，并于2024-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置与方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置与方法，该装置包括芯片与陀螺测控模块、外置光源模块、外置相位调制器、光纤环圈、光源模块，其中芯片与陀螺测控模块包括驱动和温控单元、电源控制单元、电开关控制单元、光开关控制单元、信号发生单元、采集与控制单元，用于测试指令处理和数据处理，光源模块用于对不含光源的硅光芯片提供稳定的光功率输入，模拟电开关控制信号发生单元输出信号分别施加到硅光芯片上相位调制器或外置相位调制器上，四个光开关形成三条测试通道以及连通外置相位调制器与光纤环圈，形成陀螺光路。本发明可实现不同类型的硅光芯片及陀螺性能的通用化测试，保证测试的准确性和时效性。

本发明授权一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置与方法在权利要求书中公布了：1.一种硅光芯片及陀螺性能通用化测试装置，其特征在于，包括： 芯片与陀螺测控模块，所述芯片与陀螺测控模块包括如下单元： 驱动和温控单元，用于硅光芯片上光源的恒定电流驱动和温度控制； 电源控制单元，用于硅光芯片上探测器供电； 电开关控制单元，用于根据模拟电开关控制指令，控制模拟电开关的选通方式，将信号发生单元输出调制信号施加到硅光芯片内相位调制器上或者外置相位调制器上； 光开关控制单元，用于根据光开关控制指令，控制光开关的选通方式，控制硅光芯片输出激光信号进入不同的测试通道； 信号发生单元，用于产生相位调制器测试用的调制信号以及产生陀螺正常工作时的调制信号； 采集与控制单元，用于控制各单元工作以及采集测试信号开展硅光芯片和陀螺性能测试； 光源模块，用于对不含光源的硅光芯片提供稳定的光功率输入，连接硅光芯片的输入光口； 模拟电开关，所述模拟电开关输入端连接电开关控制单元，输出端包括两个通道，分别连接硅光芯片上相位调制器的调制端口和外置相位调制器的调制端口； 光开关，包括四个，第一、第二光开关的输入分别与硅光芯片的两个光口连通，第一光开关的两个输出分别连接消光比测试通道、第三光开关的输入，第二光开关的一个输出连接第四光开关的输入，第三光开关的两个输出分别连接第一光功率测试通道、外置相位调制器的第一端口，第四光开关的两个输出分别连接第二光功率测试通道、外置相位调制器的第二端口； 所述外置相位调制器的输出端连接光纤环圈； 所述采集与控制单元包括： 分光比测试单元，用于采集第一、第二光功率测试通道的输出激光，计算分光比； 消光比测试单元，用于采集消光比测试通道的输出激光，计算消光比； 光功率测试单元，用于采集第一、第二光功率测试通道的输出激光，计算光功率； 光电流处理模块，用于将PIN型探测器输出光电流转化为电压； 差分电压处理模块，用于将FET型探测器输出差分电压放大； 单端电压处理模块，用于将TIA型探测器输出单端电压放大； 解调模块，用于采集探测器输出信号，通过对转速信号解调得到闭环控制数字信号，生成闭环电压信号，施加于硅光芯片内部的相位调制器上或者外置相位调制器上； 半波电压测试模块，用于采集探测器的输出信号，确定相位调制器的半波电压； 调制带宽测试模块，用于采集探测器的输出信号，确定相位调制器的调制带宽。

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