成都飞机工业(集团)有限责任公司刘磊获国家专利权
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龙图腾网获悉成都飞机工业(集团)有限责任公司申请的专利一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119085523B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411155018.9,技术领域涉及:G01B11/24;该发明授权一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法是由刘磊;朱绪胜;陈代鑫;周力;秦琪;马帅;刘清华;文洲设计研发完成,并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法在说明书摘要公布了:本发明属于数字化测量的技术领域,尤其涉及是一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法,首先将相机成像中央对准飞机表面待测区域,调节扫描系统纵向位置使得相机焦面位于有效扫描位置;随后调节测量光路与待测表面间夹角,使得成像条纹周期数在1以内;单方向控制扫描系统移动以实现对待测表面的纵向扫描;扫描完成后针对每个像素点提取纵向光强曲线,进一步结合傅里叶变换技术以及高斯曲线拟合算法得到像素点准确聚焦位置;最后结合扫描步距进行高度映射从而恢复待测区域三维形貌。本技术方案可提高测量精度,支持飞机外形微小局部特征三维测量,具有解调效率高、适应性广的特点。
本发明授权一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法在权利要求书中公布了:1.一种飞机外形局部特征高精度三维测量方法,其特征在于,包括以下步骤: S1,布设白光照明测量系统,白光照明测量系统包括宽光谱光源、Tube透镜Ⅰ、Tube透镜Ⅱ、CCD成像装置、分光镜、干涉物镜和位移台;其中,位移台上方的同一垂向直线上依次布设干涉物镜、分光镜、Tube透镜Ⅱ和CCD成像装置;宽光谱光源与分光镜处于同一水平直线上,两者之间布设Tube透镜Ⅰ; S2,将白光照明测量系统的成像视场范围瞄准飞机表面待测区域; S3,利用白光照明测量系统扫描获取飞机表面待测区域的图像,包括以下步骤: S31,调节CCD成像装置中扫描相机的靶面,使得该靶面与干涉物镜的镜头焦面平行; S32,调节CCD成像装置中扫描相机的纵向位置,使得扫描相机的成像中出现干涉条纹; S33,计算成像视场中干涉条纹的周期数;若干涉条纹的周期数大于1,则调节分光镜的光路,改变其光路与飞机表面待测区域平面的角度,直至相机成像视场中干涉条纹周期数小于等于1; S34,向上移动扫描相机直至相机成像视场中干涉条纹消失,记录此时扫描相机的纵向位置; S35,向下移动扫描相机直至相机成像视场中干涉条纹出现并再次消失,记录此扫描相机的纵向位置; S36,设置扫描起始位置为、扫描结束位置为;基于扫描起始位置和扫描结束位置开始扫描,扫描相机记录成像并保存至CCD成像装置的计算机中; S4,提取像素点在每幅图像中的干涉光强值形成纵向光强响应曲线;干涉光强值表示为:;其中,表示干涉光强;表示参考光光强;表示测量光光强;表示光源相干函数的实部;表示两束干涉光之间的时间延迟; S5,基于傅里叶变换及高斯曲线拟合处理光强信号,得到干涉光强值最大时所对应的扫描位置,将此位置作为像素点准确聚焦位置;其中,对所述光强信号进行一维傅里叶变换,一维傅里叶变换公式为:;为傅里叶变换结果;表示频率变量;表示自然指数函数;表示虚数单位;表示针对测量长度的积分符号; S6,基于像素点准确聚焦位置,结合扫描步距进行高度映射,以完成待测区域三维形貌恢复;高度映射表示为:;其中,表示像素点高度值;表示像素点准确聚焦位置;表示扫描步距。
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