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龙图腾网获悉清远市简一陶瓷有限公司;广东简一(集团)陶瓷有限公司;广西简一陶瓷有限公司申请的专利一种提高瓷砖平整度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117125965B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311111949.4，技术领域涉及：C04B35/14；该发明授权一种提高瓷砖平整度的方法是由苏伟劲;朱联烽;夏长斌;陈柱文;黄文锋;黄海发设计研发完成，并于2023-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种提高瓷砖平整度的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及瓷砖技术领域，尤其涉及一种提高瓷砖平整度的方法。该方法包括如下步骤：将坯体原料压制成瓷砖坯体，在瓷砖坯体的表面施加釉料；瓷砖坯体在窑炉内依次进行烧成、冷却，得到瓷砖；控制瓷砖坯体在烧成或冷却时的运输速率为2‑4mmin；烧成温度＜瓷砖坯体及釉料的熔融温度时，控制相邻两块瓷砖坯体之间的间距为1‑9mm；烧成温度≥瓷砖坯体及釉料的熔融温度时，控制相邻两块瓷砖坯体之间的间距为5‑25mm。严格限定瓷砖坯体、釉料的化学组成、两者的始熔点和软化点差值、膨胀系数差值，使获得的出窑瓷砖具有较好的平整度；通过控制瓷砖烧成阶段的参数、烧成阶段中瓷砖坯体的运输速率、瓷砖坯体的间距与其长度的比值来进一步改善大规格瓷砖的平整度。

本发明授权一种提高瓷砖平整度的方法在权利要求书中公布了：1.一种提高瓷砖平整度的方法，其特征在于，包括如下步骤： S1.将坯体原料压制成瓷砖坯体，在瓷砖坯体的表面施加釉料； S2.经步骤S1后的瓷砖坯体在窑炉内依次进行烧成、冷却，得到瓷砖； 步骤S1中，在瓷砖坯体表面施加面釉后，再进行喷墨印花，再继续施加印刷抛釉； 按质量百分比计，瓷砖坯体的化学组成包括如下：SiO264-68%、Al2O319-22%、Fe2O30.3-0.8%、TiO20.1-0.2%、CaO0.2-0.7%、MgO0.5-2%，K2O2-4%、Na2O1-3%和烧失3-8%； 按质量百分比计，印刷抛釉的化学组成包括如下：SiO240-45%、Al2O319-25%、Fe2O30.1-0.5%、TiO20.1-0.2%、CaO5-10%、MgO2-5%，K2O1-5%、BaO6-12%、MnO＜0.01%、P2O50.02-0.2%、SO3≤0.01%、Na2O2-4%和烧失1-10%； 按质量百分比计，面釉的化学组成包括如下：SiO250-55%、Al2O319-25%、Fe2O30.1-0.3%、TiO20.01-0.1%、CaO5-10%、MgO2-5%，K2O1-3%、BaO0.01-0.1%、MnO＜0.01%、P2O50.05-0.2%、SO3≤0.1%、Na2O1-4%和烧失1-10%； 瓷砖坯体的规格为900×1800mm，坯体厚度为13mm； 烧成阶段的温度从低到高依次包括前温区、中前温区、中后温区和高温区；其中，前温区的温度为800-900℃，停留时间为2-8min；中前温区的温度为前温区的最高烧成温度-1050℃，停留时间为1-10min；中后温区的温度为中前温区的最高烧成温度-1150℃，停留时间为1-10min；高温区的温度为中后温区的最高烧成温度-1210℃，停留时间为5-10min； 前温区阶段，控制瓷砖坯体在烧成时的运输速率为3.3-4.3mmin，相邻两块瓷砖坯体之间的间距与瓷砖坯体长度的比值=0.0005-0.005； 中前温区至中后温区阶段，控制瓷砖坯体在烧成时的运输速率为3.2-4.2mmin，相邻两块瓷砖坯体之间的间距与瓷砖坯体长度的比值=0.0027-0.0085； 高温区阶段，控制瓷砖坯体在烧成时的运输速率为3-4mmin，相邻两块瓷砖坯体之间的间距与瓷砖坯体长度的比值=0.0080-0.014。

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