中国科学院半导体研究所于靖一获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院半导体研究所申请的专利编码器码盘基线检测系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117078616B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202311013961.1,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权编码器码盘基线检测系统是由于靖一;窦润江;刘力源;吴南健设计研发完成,并于2023-08-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本编码器码盘基线检测系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种编码器码盘基线检测系统,包括:高速图像传感器模块,用于获取编码器码盘基线的原始图像;形态学滤波模块,用于预处理原始图像;基线分割模块用于对预处理图像进行基线特征筛选,基线特征提取模块用于提取图像的基线特征;缓存模块,用于实现图像处理操作过程中的对待处理图像的缓存。通过系统内部的高速图像传感器模块、各个图像处理模块及缓存模块,完成编码器码盘基线图像的采集、处理和传输操作,减少了整个编码器码盘安装系统的基线位置获取延迟,提高了编码器码盘安装系统精度,可广泛应用于工业制造智能化领域。
本发明授权编码器码盘基线检测系统在权利要求书中公布了:1.一种编码器码盘基线检测系统,其特征在于,包括: 高速图像传感器模块100,用于获取编码器码盘基线的原始图像,并将所述原始图像逐像素输出; 形态学滤波模块200,用于接收所述原始图像,并对所述原始图像进行预处理得到预处理图像,并将所述预处理图像逐像素输出,所述预处理依次包括膨胀腐蚀操作、图像相减操作、腐蚀膨胀操作以及高斯滤波操作; 基线分割模块300,用于对所述预处理图像进行基线特征筛选得到基线特征图像,并将所述基线特征图像逐像素输出;所述基线特征筛选依次包括梯度计算逻辑操作、极大值抑制分割逻辑操作以及基线特征筛选操作; 基线特征提取模块400,用于对所述基线特征图像进行连通域特征筛选并得到基线特征,所述连通域特征筛选依次包括连通域标记操作和连通域特征提取操作; 缓存模块,用于在执行当前操作之前,获取待操作的图像像素并将所述待操作的图像像素行缓存为待处理图像块,当所述待处理图像块的像素数量满足当前操作对像素的数量要求时,执行当前操作,所述当前操作包括所述膨胀腐蚀操作、所述图像相减操作、所述腐蚀膨胀操作、所述高斯滤波操作、所述梯度计算逻辑操作、所述极大值抑制分割逻辑操作、所述基线特征筛选操作、所述连通域标记操作以及所述连通域特征提取操作,所述待操作的图像像素包括上一个操作或者上一个模块所输出的图像像素。
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