中国科学院深圳先进技术研究院葛永帅获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院深圳先进技术研究院申请的专利X射线相位定量成像技术与测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297578B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111565887.5，技术领域涉及：G01N23/083；该发明授权X射线相位定量成像技术与测量方法是由葛永帅;杨杰成;梁栋;刘新;郑海荣;苏婷设计研发完成，并于2021-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本X射线相位定量成像技术与测量方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种X射线相位定量成像技术与测量方法、装置、设备及其存储介质，本申请提供的方案，从系统的成像机制与信号探测上避免了正反相位像发生重叠的现象，无需后续复杂的正反相位像分离运算即可直接提取样品的相位图像，简化了数据处理的流程，提高了样品相位信息采集的效率；该成像技术构建了成像系统参数与正反相位像分离程度之间的关联，并定量设计了系统中各个光学器件需要满足的成像条件，提出了一种测量绝对相位信号的实验方法，所提出的探测器装配方案能够对不同分离方向和程度的相位图像进行精确测量。
本发明授权X射线相位定量成像技术与测量方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线相位定量成像与测量方法，其特征在于，该方法包括： 通过光栅干涉仪的X射线相位显微系统，实现待测样品的正反相位像的完全分离； 依据正反相位像的分离程度，给出具备多个空间自由度的探测器装配和调整方案； 通过探测器装配和调整方案对分离后的正反相位像进行探测; 实现待测样品的正反相位像的完全分离，包括： 在保证对样品清晰成像的前提下，判断正反相位像之间的分离距离是否大于样品沿光栅步进方向的最大尺寸，即，其中，为X射线波长，为相位光栅沿步进方向的等效周期，为相位光栅到探测器的距离，为样品经由波带片放大成像的倍数，为样品沿光栅步进方向的最大尺寸； 若正反相位像之间的分离距离大于样品沿光栅步进方向的最大尺寸，则正反相位像之间完全分离；若未完全分离，则依据表达式调节相应的系统参数进而增加正反相位像分离的程度； 在探测端实现正反相位像的完全分离之后，该方法还包括： 根据已获得的正反相位像的定量分离信息，利用具备多个空间自由度的探测器装置以实现准确的信号提取。
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