深圳市振华兴智能技术有限公司龚平获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市振华兴智能技术有限公司申请的专利锡膏高度检测方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121007504B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511539058.8,技术领域涉及:G01B11/06;该发明授权锡膏高度检测方法、装置、计算机设备及存储介质是由龚平;巫佳彬设计研发完成,并于2025-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本锡膏高度检测方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明涉及一种锡膏高度检测方法、装置、计算机设备及存储介质,所述方法包括:获取三个检测点位;在每个检测点位,将高频相移条纹图投射至待检测锡膏上以获取高频投射图像,将低频相移条纹图投射至待检测锡膏上以获取低频投射图像;根据高频投射图像,获取高频投射相位;根据低频投射图像,获取低频投射相位;根据高频相位高度方程和高频投射相位,获取高频待确认条纹高度;根据低频相位高度方程和低频投射相位,获取低频待确认条纹高度;判断低频待确认条纹高度是否超过高频相移条纹图的最大量程;若未超过高频相移条纹图的最大量程,则将高频待确认条纹高度,作为待检测锡膏的高度。本发明在测量锡膏高度时,精度高,误差小。
本发明授权锡膏高度检测方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种锡膏高度检测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取三个检测点位; 在每个所述检测点位,将高频相移条纹图投射至待检测锡膏上以获取高频投射图像,将低频相移条纹图投射至所述待检测锡膏上,以获取低频投射图像; 根据所述高频投射图像,使用相移法获取高频投射相位; 根据所述低频投射图像,使用相移法获取低频投射相位; 根据高频相位高度方程和所述高频投射相位,获取高频待确认条纹高度; 根据低频相位高度方程和所述低频投射相位,获取低频待确认条纹高度; 判断所述低频待确认条纹高度是否超过所述高频相移条纹图的最大量程; 若未超过所述高频相移条纹图的最大量程,则将所述高频待确认条纹高度,作为待检测锡膏的高度; 若超过所述高频相移条纹图的最大量程,则根据以下方式获取待所述检测锡膏的高度: 其中,为待检测锡膏的高度,为高频待确认条纹高度,是低频待确认条纹高度,为高频相移条纹图的最大量程; 在所述获取三个检测点位之前,所述方法还包括: 获取高频相移条纹图和低频相移条纹图,所述高频相移条纹图和所述低频相移条纹图的周期相同; 在所述高频相移条纹图的一个周期内,均匀获取三个投射点位; 三个所述投射点位,按照以下选取: 其中,T表示高频相移条纹图的周期。
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