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泰科天润半导体科技(北京)有限公司何佳获国家专利权

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龙图腾网获悉泰科天润半导体科技(北京)有限公司申请的专利一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120957449B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511470418.3,技术领域涉及:H10D30/01;该发明授权一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS及其制备方法是由何佳;杨绍明;胡惠娜;张瑜洁设计研发完成,并于2025-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS及其制备方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS及其制备方法,所述方法包括:在碳化硅衬底下侧面淀积金属,形成漏极金属层,在碳化硅衬底上侧面外延生长,形成漂移层;形成阻挡层,刻蚀,离子注入形成P型区;去除阻挡层,在漂移层上延生长,形成外延层;形成阻挡层,刻蚀,离子注入形成P+区、P型屏蔽层、N型低阻区、P型阱区及N型源区;刻蚀外延层形成凹槽,并氧化凹槽形成绝缘介质层,所述绝缘介质层内设有沟槽;淀积金属,形成栅极金属层;刻蚀外延层,之后淀积金属,形成源极金属层,去除阻挡层,完成制备;通过对器件上下两层的超结沟槽栅结构,在保证器件低导通电阻的提高器件耐压至4.5kV。

本发明授权一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种4.5kV超结沟槽栅碳化硅VDMOS的制备方法,其特征在于:包括如下步骤: 步骤1、在碳化硅衬底下侧面淀积金属,形成漏极金属层,在碳化硅衬底上侧面外延生长,形成漂移层; 步骤2、在漂移层上方形成阻挡层,刻蚀阻挡层形成通孔,离子注入形成P型区; 步骤3、去除步骤2的阻挡层,在漂移层上外延生长,形成外延层; 步骤4、在外延层上形成阻挡层,刻蚀阻挡层形成通孔,离子注入形成P+区; 步骤5、离子注入,形成P型屏蔽层; 步骤6、离子注入,形成N型低阻区; 步骤7、离子注入形成P型阱区; 步骤8、离子注入形成N型源区; 步骤9、刻蚀外延层形成凹槽,并氧化凹槽形成绝缘介质层,所述绝缘介质层内设有沟槽; 步骤10、淀积金属,形成栅极金属层; 步骤11、刻蚀外延层,之后淀积金属,形成源极金属层,去除阻挡层,完成制备; 在步骤5、6、9至11之前,均需要去除上一步骤的阻挡层,刻蚀阻挡层形成通孔; 所述P+区下侧面连接至P型区; 所述低阻区下侧面连接至漂移层,所述低阻区外侧面连接至所述P+区内侧面; 所述屏蔽层下侧面连接至所述漂移层上侧面,所述屏蔽层外侧面连接至所述低阻区内侧面; 所述P型阱区下侧面连接至所述低阻区,所述P型阱区外侧面连接至所述P+区内侧面; 所述N型源区下侧面连接至所述P型阱区上侧面,所述N型源区外侧面连接至所述P+区内侧面; 所述绝缘介质层下侧面连接至屏蔽层,所述绝缘介质层外侧面分别连接所述低阻区内侧面、P型阱区内侧面以及N型源区内侧面;所述绝缘介质层内设有沟槽; 所述栅极金属层设于所述沟槽内。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人泰科天润半导体科技(北京)有限公司,其通讯地址为:101300 北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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