中国星网网络应用有限公司王中克获国家专利权
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龙图腾网获悉中国星网网络应用有限公司申请的专利一种芯片批量化测试装置和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120831561B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511324659.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片批量化测试装置和方法是由王中克;杨越;陈川洋;叶玖林设计研发完成，并于2025-09-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片批量化测试装置和方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片批量化测试装置和方法，涉及芯片测试领域，用以提升批量芯片的测试效率。本发明将安装待测芯片的安装槽进行级联，利用固件指示每一级待测芯片将本级的测试结果连接到先前芯片的测试结果上，作为后一级芯片的检测数据。上位机控制每一条链路中的所有待测芯片进行同步自检。本发明在同一链路上即完成对芯片的批量化测试，在与现有检测方式完成单颗检测相同耗时情况下能够完成对多颗芯片的批量化检测，检测效率大幅提升，且测试成本未显著变化。逐级递增的测试结果能够提升对芯片检测的充分性。本发明可以灵活决定要同时测试的芯片数量。
本发明授权一种芯片批量化测试装置和方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片批量化测试装置，其特征在于，包括上位机和至少一条待测芯片链路；每一条待测芯片链路分别包括级联的至少一级用于安装待测芯片的安装槽；每一级安装槽均连接有存储单元，所述存储单元存储有固件；所述固件指示使能的待测芯片基于接收的检测信号和测试结果信号，产生指示截至本级测试结果的检测信号和测试结果信号作为后一级待测芯片的检测数据；所述检测信号属于供待测芯片处理的信号，所述测试结果信号属于未被待测芯片处理的信号，用于供待测芯片与其对检测信号的处理结果进行比对，从而得到检测结果；每一条待测芯片链路的每相邻两个安装槽间通过两条传输电路分别传输所述检测信号和所述测试结果信号；所述上位机分别连接每一条待测芯片链路的使能端，以在该待测芯片链路的所有安装槽均安装待测芯片后，使能各待测芯片根据所述固件的指示，以接收的检测数据进行测试，并以截至本级的测试结果作为后一级待测芯片的检测数据；每一级待测芯片所产生的测试结果均包含了本级及之前所有待测芯片的测试结果。
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