武汉理工大学三亚科教创新园何大平获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉理工大学三亚科教创新园申请的专利一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120741535B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511220359.4，技术领域涉及：G01N23/2202；该发明授权一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法是由何大平;龚振宇;陈子柏;陈宬;黄云涛设计研发完成，并于2025-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法。本发明的SEM制样方法，所采用的溶剂为丙酮、乙醇、甲醇中的至少一种，这些溶剂为低张力，低沸点、高蒸汽压、低粘度的液体；导电基底与水平面夹角为15~45°；通过使用丙酮、乙醇、甲醇等特定溶剂达到快速蒸发的效果，并结合将分散液滴加至以15~45°夹角倾斜放置的导电基底表面的方式，使得微纳样品能够均匀分布在导电基底上，避免了咖啡环效应，确保了微纳样品表面结构的均匀性和完整性。这种方法减少了微纳样品颗粒聚集，提高了微纳样品表面质量，适合高分辨率形貌观察，特别是在SEM和AFM等表征中，能够呈现更清晰、精细的微纳米结构，有助于精准分析微纳样品的结构特性。
本发明授权一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法在权利要求书中公布了：1.一种微纳样品形貌表征的SEM制样方法，其特征在于，包括以下步骤： 将微纳样品分散至溶剂中，得到分散液； 将导电基底倾斜放置，所述导电基底与水平面夹角为40°； 将分散液滴加至倾斜放置的导电基底表面，待溶剂挥发，完成SEM制样，进行SEM测试； 其中，所述溶剂为乙醇； 所述微纳样品为氧化石墨烯纳米片； 所述氧化石墨烯纳米片的直径为0.1~6μm： 所述分散液中微纳样品的质量分数为0.01~0.0001%。
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