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龙图腾网获悉度亘核芯光电技术(苏州)股份有限公司申请的专利激光器阵列检测方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120740935B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511149234.7，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权激光器阵列检测方法和设备是由赵玉柱;王聪;林丹;张佳铮;王义方;陆翼森;安德铭设计研发完成，并于2025-08-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本激光器阵列检测方法和设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种激光器阵列检测方法和设备，涉及激光技术领域。本申请的激光器阵列检测方法将图像检测和功率检测结合在一起，首先通过筛选出暗点，来确定异常风险较高的部分发光芯片，再针对暗点进行针对性的功率检测，这样可以提高检测效率；而发光芯片是否异常是通过功率检测判断，能够保证检测准确度。进一步的，通过判断暗点的分布状态是分散型分布还是集中型分布，可以一定程度上确定暗点所处位置的差异化。通过确定暗点，并判断暗点的分布状态，在不同的分布状态下采用不同的检测策略，使得检测效率较高，而且检测准确性也较高。本申请实施例提供的激光器阵列检测设备可以实现上述的检测方法。

本发明授权激光器阵列检测方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种激光器阵列检测方法，其特征在于，所述激光器阵列10包括阵列排布的多个发光芯片11，所述激光器阵列检测方法包括： 获取发光状态下所述激光器阵列10的灰度图像，确定所述灰度图像中每个灰度块12的灰度值，其中，所述灰度块12与所述发光芯片11一一对应； 将所述灰度图像中灰度值小于预设阈值的所述灰度块12确定为暗点12a； 判断所述暗点12a的分布状态属于集中型分布还是分散型分布； 在所述暗点12a的分布状态属于所述集中型分布的情况下，按灰度值从低到高，依次对所述灰度块12对应的所述发光芯片11进行功率检测并判断是否合格，直至检测到合格的所述发光芯片11； 在所述暗点12a的分布状态属于所述分散型分布的情况下，将所述灰度图像分成多个子区域，对每个所述子区域中灰度值最低的所述灰度块12对应的所述发光芯片11进行功率检测并判断是否合格，若每个所述子区域中灰度值最低的所述灰度块12对应的所述发光芯片11均合格，则停止检测。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人度亘核芯光电技术(苏州)股份有限公司，其通讯地址为：215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号东北区32幢；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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