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龙图腾网获悉上海科技大学申请的专利一种确定手性晶体对映异构体含量的方法及应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120685695B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510922690.4，技术领域涉及：G01N23/20；该发明授权一种确定手性晶体对映异构体含量的方法及应用是由马延航;胡俊逸;董卓雅设计研发完成，并于2025-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种确定手性晶体对映异构体含量的方法及应用在说明书摘要公布了：本发明涉及一种确定手性晶体对映异构体含量的方法及应用，包括以下步骤：识别并标记载网上所有晶体的坐标位置；在成像模式下依次收取所有晶体样品旋转过程中的低倍图像，计算晶体在旋转过程中的漂移路径；在电子衍射模式下再依次旋转所有晶体样品，并按照晶体的漂移路径移动电子束光斑，同时收集电子衍射花样，获取晶体取向、衍射积分强度信息；根据晶体取向信息，模拟晶体样品中两种对映异构体在相同晶体取向但不同厚度下的三维电子衍射数据并获取其衍射积分强度；比较实验衍射积分强度与模拟衍射积分强度，根据匹配度确定单颗晶体的绝对结构；统计分析得到晶体样品中两种对映异构体的相对含量，解决了手性粉末晶体中对映异构体定量的难题。

本发明授权一种确定手性晶体对映异构体含量的方法及应用在权利要求书中公布了：1.一种确定手性晶体对映异构体含量的方法，其特征在于，利用三维电子衍射对手性粉末晶体样品的手性结构进行定量分析，包括以下步骤： S1、将手性粉末晶体样品分散于透射电镜载网上，置于透射电镜中； S2、移动载网拍摄一系列透射电镜图像，识别并标记所有晶体的坐标位置； S3、在成像模式下依次收取步骤S2中所有晶体样品旋转过程中的低倍图像，并计算晶体在旋转过程中的漂移路径； S4、在电子衍射模式下再依次旋转所有晶体样品，并按照步骤S3中晶体的漂移路径移动电子束光斑，同时收集电子衍射花样，获取晶体取向、衍射积分强度信息； S5、根据步骤S4获得的晶体取向信息，模拟晶体样品中两种对映异构体在相同晶体取向但不同厚度下的三维电子衍射数据并获取其衍射积分强度； S6、将步骤S4得到的衍射积分强度与步骤S5模拟得到的衍射积分强度对比，根据匹配度确定单颗晶体的绝对结构； S7、通过统计分析，得到手性粉末晶体样品中两种对映异构体的相对含量。

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