中科驭数(北京)科技有限公司周健获国家专利权
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龙图腾网获悉中科驭数(北京)科技有限公司申请的专利DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120490773B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510736830.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质是由周健;蔡斌设计研发完成，并于2025-06-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质，涉及高温老化测试技术领域，包括控制模组包括下压模组、支撑部件和接触模组；支撑部件包括连接机构以及多层支撑机构；每层支撑机构与每层PCIE底座一一对应，每层支撑机构上设置有多个接触模组，每层支撑机构上的每个接触模组与每层PCIE底座上的每个槽位一一对应且相对设置；下压模组通过下压操作促使支撑部件上的每个接触模组的接触端与对应槽位中的DPU板卡的串口点接触。通过高温老化测试设备解决了手动频繁拔插串口线切换模式操作，提高了测试效率，降低了拔插损坏板卡风险，实现了自动判定测试结果并保存测试日志后上传MES系统，提升了测试过程管控能力。
本发明授权DPU板卡高温老化测试设备、系统、方法及介质在权利要求书中公布了：1.一种DPU板卡高温老化测试设备，其特征在于，包括高温老化箱、控制模组；所述高温老化箱包括多层PCIE底座，每层所述PCIE底座上均设置有多个槽位；所述控制模组包括控制单元、下压模组、支撑部件和接触模组；所述控制单元与所述下压模组连接；所述支撑部件包括连接机构以及多层支撑机构，所述连接机构的第一端与所述下压模组的下压端连接，所述连接机构的第二端分别与每层所述支撑机构连接；每层所述支撑机构与每层所述PCIE底座一一对应，每层所述支撑机构上均设置有多个所述接触模组，每层所述支撑机构上的每个所述接触模组与每层所述PCIE底座上的每个所述槽位一一对应且相对设置；所述下压模组在所述控制单元的控制下通过下压操作促使所述支撑部件上的每个所述接触模组的接触端与相对设置的槽位中的DPU板卡的串口点接触连接。
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