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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120121935B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510173287.6，技术领域涉及：G01R31/08；该发明授权一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法是由张丹丹;程路青设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法，包括以下步骤：获得与待测电缆同型号健康电缆的衰减系数αf和相移系数βf；获得待测电缆末端开路和短路时的阻抗谱；绘制定位曲线FL；计算表征缺陷程度的特征参量定位曲线各处峰值归一化处理；计算缺陷程度表征参量δ；比较表缺陷程度表征量的大小。本发明提供的评估方法可以实现对各种型号电缆缺陷程度的计算和比较，为各种型号电缆制定统一的缺陷程度评估方法，适用范围较广，抗干扰能力较强，为基于阻抗谱的电缆缺陷状态评估提供可靠依据。

本发明授权一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法在权利要求书中公布了：1.一种基于阻抗谱法的电缆局部缺陷程度评估方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、通过测量与待测电缆同一型号健康电缆末端开路和短路时的阻抗谱，得到健康电缆在频率范围内的衰减系数αf和相移系数βf； 步骤二、通过阻抗分析仪测量待测电缆末端开路、短路时的阻抗谱，阻抗谱包括阻抗幅值谱和阻抗相位谱； 步骤三、采用正交积分算法绘制定位曲线FL； 步骤四、构造健康电缆和待测电缆的新阻抗相位谱，并计算得到新阻抗相位谱上包络线随频率变化的数学拟合式，根据数学拟合式计算得到表征缺陷程度的特征参量； 步骤五、以待测电缆定位曲线中末端的峰值FLend为基准峰，将其余特征峰FLj进行归一化处理； 步骤六、计算缺陷程度表征参量δ； 步骤七、比较缺陷程度表征参量δ的大小，更低的数值对应着更高的缺陷程度； 所述步骤五中定位曲线各处峰值归一化处理的流程包括：通过步骤三和步骤四获得待测电缆缺陷程度特征参量、电缆缺陷定位曲线FL以及电缆局部缺陷位置，计算不同缺陷的衰减补偿系数，如式11所示： ； 式中Cj为第j处缺陷归一化处理后定位曲线峰值的衰减补偿系数，通过Cj获取待测电缆各个缺陷的缺陷程度的比值，结合φfmax则得到待测电缆各处缺陷的量化程度值，l是待测电缆全长，lj是距离待测电缆测量端第j处的缺陷位置，Flj和Fl分别为lj和l位置下定位曲线的幅值，M为实际测得的阻抗相位谱频点数，αi和βi分别为第i个频率点下与待测电缆同型号健康电缆的衰减系数值和相移系数值，当电缆存在n处缺陷时，分别计算j处缺陷的衰减补偿系数C1、C2……Cn，则第j处缺陷的缺陷程度表征量计算如下： ； 式中为各处缺陷的缺陷长度，在步骤三的计算中获取。

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