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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利单光子探测器性能测试方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120043631B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510255666.X，技术领域涉及：G01J1/44；该发明授权单光子探测器性能测试方法和装置是由陆健婷;柳月波;赖灿雄;廖文渊;李树旺;路国光设计研发完成，并于2025-03-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本单光子探测器性能测试方法和装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种单光子探测器性能测试方法和装置。所述方法包括：根据待测探测器的待测性能的性能类型，从候选性能测试系统中选择待测性能对应的目标性能测试系统；其中，待测探测器为单光子探测器；将待测探测器置于目标性能测试系统中，以构建针对待测探测器的测试环境；根据待测性能的性能测试要求，对置于测试环境中的待测探测器施加预设光信号，并获取待测探测器对预设光信号进行检测的过程中生成的脉冲探测信息；根据脉冲探测信息，确定待测探测器的待测性能的测试结果。采用本方法能够降低单光子探测器性能测试过程中的测试成本，并保证测试过程的稳定性和测试结果的准确性。

本发明授权单光子探测器性能测试方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种单光子探测器性能测试方法，其特征在于，所述方法包括： 根据待测探测器的待测性能的性能类型，从候选性能测试系统中选择所述待测性能对应的目标性能测试系统；其中，所述待测探测器为单光子探测器；候选性能测试系统包括时间延迟测试系统、泛光性能测试系统和聚焦性能测试系统； 将所述待测探测器置于所述目标性能测试系统中，以构建针对所述待测探测器的测试环境； 根据所述待测性能的性能测试要求，对置于所述测试环境中的待测探测器施加预设光信号，并获取所述待测探测器对所述预设光信号进行检测的过程中生成的脉冲探测信息； 根据所述脉冲探测信息，确定所述待测探测器的所述待测性能的测试结果； 其中，根据待测探测器的待测性能的性能类型，从候选性能测试系统中选择所述待测性能对应的目标性能测试系统，包括： 若所述待测探测器的待测性能的性能类型为泛光性能，则将泛光性能测试系统作为目标性能系统；所述泛光性能测试系统包括：波形发生器、脉冲光源、衰减器、准直器、反射镜和工程散射片；所述波形发生器的输出端连接所述脉冲光源的输入端；所述脉冲光源的输出端和所述准直器的输入端中间放置有衰减器；所述反射镜与所述准直器的输出端呈第二预设方位放置；所述反射镜的垂直上方放置有工程散射片。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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