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天府兴隆湖实验室罗先刚获国家专利权

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龙图腾网获悉天府兴隆湖实验室申请的专利一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119901462B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411978221.6,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质是由罗先刚;刘洋;蒲明博;王茂宇;牛学飞设计研发完成,并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质在说明书摘要公布了:本发明涉及激光技术领域,具体地说,涉及一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质;该方法首先根据获取的入射激光参数、光学系统元素参数,计算光子点集数据、温度场数据、热变形数据;识别透射式光学元件入射表面和透射表面的关键光子点;然后根据识别的关键光子点,计算透射式光学元件表面热变形畸变相差、透射式光学元件热光效应相差;最后计算总相差,实现透射式光学元件相差数据的快速高效计算,将相差叠加到对应光线追迹路径上,分析任意透射式光学元件,有益于准确计算全系统光线追迹的相差。

本发明授权一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质在权利要求书中公布了:1.一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法,其特征在于,具体包括以下步骤: 步骤S1:根据获取的入射激光参数、光学系统元素参数,计算光子点集数据、温度场数据、热变形数据,并提取至MATLAB软件工作区; 步骤S2:从MATLAB软件工作区提取温度场数据和热变形数据,根据光线传播时序,识别透射式光学元件入射表面和透射表面的关键光子点; 步骤S3:根据识别的关键光子点,计算透射式光学元件表面热变形畸变相差; 步骤S4:将透射式光学元件入射表面的关键光子点、透射式光学元件透射表面的关键光子作为热相差积分路径始末两点,计算透射式光学元件热光效应相差; 步骤S5:根据透射式光学元件表面热变形畸变相差、透射式光学元件热光效应相差,计算透射式光学元件总相差; 步骤S6:根据透射式光学元件总相差,评估光束质量或远场激光分布强度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人天府兴隆湖实验室,其通讯地址为:610000 四川省成都市天府新区科智路999号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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