中国科学院上海光学精密机械研究所王高中获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种双光子荧光材料的综合测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119470366B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411522457.9，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种双光子荧光材料的综合测量系统是由王高中;王圣浩;周玮;白雪;方圆;吴凌志设计研发完成，并于2024-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种双光子荧光材料的综合测量系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种双光子荧光材料的综合测量系统，包括激光器、可调谐衰减器、分束器、参考光积分球、参考光光谱仪、聚焦镜、测试光积分球、测试光积分球、透射光积分球、透射光光谱仪、步进电机控制器和计算机等部分。通过本发明的综合测量系统，不仅实现了对双光子荧光材料多种关键性能参数的全面测量，而且提高了测量的准确性和可靠性，为双光子荧光材料的研究与应用提供了强有力的技术支持。
本发明授权一种双光子荧光材料的综合测量系统在权利要求书中公布了：1.一种双光子荧光材料的综合测量系统，其特征在于，包括： 激光器，用于产生激光光束； 可调谐衰减器，设置于所述激光器产生的激光光束的路径上，用于调节激光光束的强度； 分束器，设置于经过所述可调谐衰减器调节后的激光光束的路径上，用于将激光光束分割成参考光和测试光； 参考光积分球，用于收集所述参考光； 参考光光谱仪，通过光纤与所述参考光积分球连接，用于测量所述参考光的光谱分布； 聚焦镜，设置于所述测试光的路径上，用于将所述测试光聚焦至预设焦点； 测试光积分球，设置于所述聚焦镜的焦点处，内部放置有待测双光子荧光材料样品，用于收集样品发出的荧光； 测试光光谱仪，通过光纤与所述测试光积分球连接，用于测量所述荧光的光谱分布； 透射光积分球，设置于所述测试光积分球的后方，用于收集从样品透射出来的测试光； 透射光光谱仪，通过光纤与所述透射光积分球连接，用于测量所述透射光的光谱分布； 步进电机控制器，用于控制系统中各组件的运动和位置调整； 计算机，与所述参考光光谱仪、测试光光谱仪和透射光光谱仪连接，用于接收光谱数据并进行处理，以计算双光子荧光光谱、非线性发光量子效率和非线性透过率。
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