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龙图腾网获悉中国科学院国家天文台申请的专利基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119001879B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411253896.4，技术领域涉及：G01V3/38；该发明授权基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法是由刘书宁;苏彦;张宗煜;戴舜;管威;李春来设计研发完成，并于2024-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法在说明书摘要公布了：本公开提供了一种基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法，该方法包括响应于数据处理请求，获取雷达数据，其中，雷达数据是利用探地雷达的收发天线对待测物质进行探测所生成的；在雷达剖面图中的双曲线图形中随机地抽取多个随机坐标点，其中，雷达剖面图是根据雷达数据生成的；对多个随机坐标点进行拟合处理，得到目标双曲线函数，其中，目标双曲线函数包括顶点坐标点；基于预设介电常数方程，根据收发天线的天线参数、多个随机坐标点和顶点坐标点，生成待测物质的目标介电常数和目标反射体深度，天线参数包括天线位置参数。

本发明授权基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法在权利要求书中公布了：1.一种基于探地雷达天线位置的介电常数反演方法，包括： 响应于数据处理请求，获取雷达数据，所述雷达数据是利用所述探地雷达的收发天线对待测物质进行探测所生成的； 在雷达剖面图中的双曲线图形中随机地抽取多个随机坐标点，所述雷达剖面图是根据所述雷达数据生成的； 对多个所述随机坐标点进行拟合处理，得到目标双曲线函数，所述目标双曲线函数包括顶点坐标点； 基于预设介电常数方程，根据所述收发天线的天线参数、多个所述随机坐标点和所述顶点坐标点，生成所述待测物质的目标介电常数和目标反射体深度，所述天线参数包括天线位置参数； 其中，基于预设介电常数方程，根据所述收发天线的天线参数、多个所述随机坐标点和所述顶点坐标点，生成所述待测物质的目标介电常数和目标反射体深度，包括： 针对每个所述随机坐标点，将所述天线参数、所述顶点坐标点和所述随机坐标点代入所述预设介电常数方程，得到与所述随机坐标点对应的初始介电常数和初始反射体深度； 对多个所述初始介电常数进行平均处理，得到所述目标介电常数； 对多个所述初始反射体深度进行平均处理，得到所述目标反射体深度； 其中，所述预设介电常数方程为： 其中，W为收发天线的横线距离，L为收发天线的纵向距离，h1为发射天线距离地面的高度，h2为接收天线距离地面的高度，H为目标反射体深度，y0为双曲线顶点对应的水平投影距离，θ1为发射天线和接收天线的中点与双曲线函数顶点的水平投影距离相同时下行波的折射角，θ2为发射天线和接收天线的中点与双曲线函数顶点的水平投影距离相同时上行波的入射角，y为收发天线中点与起点的水平距离，x1为发射天线的水平距离x1=L2，x2为接收天线的水平距离x2=-L2，y1为发射天线的纵向距离y1=y-W2，y2为接收天线的纵向距离y2=y+W2，a1为下行波在地面处的折射点的水平距离，a2为上行波在地面处的折射点的水平距离，b1为下行波在地面处的折射点的纵向距离，b2为上行波在地面处的折射点的纵向距离，c为光速，t为双程时延，t0为发射天线和接收天线的中点与双曲线函数顶点的水平投影距离相同时的双程时延，ε为待测物质的目标介电常数。

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