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龙图腾网获悉集美大学申请的专利一种与关键构件应力集中系数相关的参数检测装置与检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118687471B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410546489.6，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种与关键构件应力集中系数相关的参数检测装置与检测方法是由陈俊英;庄英棋;陈秀玉;蒋清山;陈仕齐;李毅;许志龙设计研发完成，并于2024-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种与关键构件应力集中系数相关的参数检测装置与检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种与关键构件应力集中系数相关的参数的检测装置，包括底座、图像尺寸测量系统、白光干涉测量系统和旋转台，使用与关键构件应力集中系数相关的参数的检测装置的检测方法，包括如下步骤：采集缺口试样的图像，采集缺口试样的底部表面微观形貌点云，计算缺口试样的结构应力集中表征参数尺寸，趋势校平，进行三维表面应力集中表征参数的计算。本发明属于与应力集中系数相关的参数技术领域，具体解决了现有技术不能同时测量结构应力集中表征参数和表面应力集中表征参数的功能，需要人工进行试棒旋转，去除趋势时容易在校平过程中丢失关键信息从而使测量不准确的问题，是一种新型与关键构件应力集中系数相关的参数的检测装置与检测方法。

本发明授权一种与关键构件应力集中系数相关的参数检测装置与检测方法在权利要求书中公布了：1.一种与关键构件应力集中系数相关的参数的检测装置的检测方法，其特征在于：检测装置包括底座1、图像尺寸测量系统2、白光干涉测量系统3和旋转台6，所述图像尺寸测量系统2固定安装在底座1的两侧，所述白光干涉测量系统3通过Z轴移动装置4固定立设在底座1上侧，所述旋转台6通过精密二维移动平台5固定设置在底座1上，缺口试样7拆卸固定在旋转台6上； 所述图像尺寸测量系统2包括CCD工业相机一8、远心镜头9和同轴平行光源10，所述CCD工业相机一8通过安装座固定在底座1的一侧，所述远心镜头9设于安装座的另一侧和CCD工业相机一8位置对应，所述同轴平行光源10固定设于底座1远离远心镜头9的一侧； 所述白光干涉测量系统3包括CCD工业相机二11、白光干涉镜头12和白光光源13，所述CCD工业相机二11通过连接架固定在Z轴移动装置4上，所述白光干涉镜头12安装在CCD工业相机二11靠近缺口试样7的一侧，所述白光光源13固定在白光干涉镜头12的一侧； 所述Z轴移动装置4包括滚珠丝杠14和压电陶瓷15，所述滚珠丝杠14通过安装桥架固定在底座1上侧，所述压电陶瓷15固定安装在滚珠丝杠14上，所述CCD工业相机二11通过连接架固定在压电陶瓷15上； 检测装置的检测方法包括如下步骤： S1：利用CCD工业相机一8、远心镜头9和同轴平行光源10采集缺口试样的图片； S2：利用CCD工业相机二11、白光干涉镜头12、白光光源13和滚珠丝杠14采集缺口试样的底部表面微观形貌点云； S3，利用图像尺寸测量技术得到缺口试样的结构应力集中表征参数尺寸， 其中结构应力集中表征参数包括缺口深度h、缺口底部圆弧半径r、缺口角度Φ， 使用霍夫变换进行直线与圆的检测，以此进行缺口底部圆弧半径r、缺口角度Φ的计算，利用图像灰度值遍历寻找特征点以此计算缺口深度h； S4：根据图像尺寸测量系统2得到缺口底部的显微图像，对白光干涉测量系统3所得到的微观形貌点云进行趋势校平，对基于白光干涉测量系统3的缺口底部表面微观形貌点云进行处理，根据缺口最低底点与采样点云的大小来确定所选取曲线趋势的范围，利用图像处理得到曲线的趋势并将其转换为光滑曲面，将测量所得的粗糙曲面减去所转换的光滑曲面得到趋势去除后的曲面，并通过中值滤波来去除噪声点； S5：对趋势去除后的点云进行表面微观形貌三维表征参数的计算，在三维点云中提取二维截面轮廓，通过公式计算二维表征参数。

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