中国科学院上海光学精密机械研究所陈威获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118641511B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410569636.1，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法是由陈威;史亦沣;张国栋;郑毅帆;邵宇川设计研发完成，并于2024-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法，该方法将电荷载流子的复合速率方程与遗传算法和统计方法相结合，拟合了薄膜的时间分辨荧光光谱信号，从而实现了对势阱密度值以及势阱深度值的直接测量。该方法有助于成功确定不同样品的势阱分布。这种测量方法对于优化材料性能和提高器件效率具有重要作用。
本发明授权基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于时间分辨荧光光谱的钙钛矿薄膜浅能级缺陷分布的测试方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、选择钙钛矿作为待测样品，放置于时间分辨荧光光谱探测系统的样品台上； S2、利用时间分辨荧光光谱探测系统使不同功率Iexci的激光，分别照射在所述待测样品上产生荧光，利用时间相关单光子计数器收集不同激光功率下待测样品产生的不同荧光，根据脉冲激发事件与光子接收事件的时间差确定对应的荧光强度-时间图Iit; S3、根据载流子复合与跃迁模型，拟合荧光强度-时间图Iit，并利用遗传算法优化参数选取过程，得到一组参数set1，重复该步骤，直至得到n+1组参数，即{set1,set2,set3,……setn+1}； S4、从所述n+1组参数中提取势阱密度{trapdensity1,trapdensity2,trapdensity3,……trapdensityn+1}，并统计所取出势阱密度在每一个区间内的计数，得到钙钛矿薄膜势阱分布，即势阱密度最概然值Nt； S5、从所述n+1组参数中提取势阱深度，得到势阱深度最概然值ΔE。
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