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龙图腾网获悉南京理工大学申请的专利一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116912191B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310843688.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法是由刘芳;尹康华;刘嘉;肖亮设计研发完成，并于2023-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法，该方法包括：构造基于ResNet‑50的骨干网络用于提取图像特征；加入FPN模块来融合增强不同层级的特征图；构造一个候选框生成模块，该网络用于降低特征图的通道数，并得到一组高质量的旋转预选框；构建一个检测头模块用于修正预选框并判断框内存在何种异常；引入KLD来衡量旋转框的预测损失；根据获得修正信息和分类分数确定异常位置和异常类型。本发明设计了一个候选框生成模块和一个基于KLD的损失函数，候选框生成模块旨在使用更少的参数来生成高质量的候选框，基于KLD的损失函数能够针对不同长宽比和倾斜角度的目标动态的计算损失权重，从而指导模型生成一个更贴合目标的旋转框。

本发明授权一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片X光侧视图的自适应旋转缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 第一步，构造基于ResNet-50的骨干网络用于提取图像特征； 第二步，在获得特征图后，加入FPN模块来分别融合增强不同层级的特征图； 第三步，将特征图输入到一个候选框生成模块中，该网络通过一个的卷积来降低特征图的通道数，再用两个的卷积得到一组高质量的旋转预选框； 第四步，构建一个检测头模块用于修正预选框并判断框内存在何种异常； 第五步，引入KLD来衡量旋转框的预测损失，做到自适应的计算框的边长权重与角度权重，从而达到适应不同长宽比的目标检测效果，具体过程为： 将预测得到的预测目标框从一个向量形式转换成高斯分布表示形式，同理对真实目标框也做一样的操作，然后基于两个高斯分布计算他们的KLD，以这个KLD作为loss函数来指导模型的预测，做到自适应的计算框的边长权重与角度权重，损失函数如下所示： ； 其中分别表示预测目标框与真实目标框的高斯分布，下标分别表示预测目标和真实目标；目标框的高斯分布表示为，表示真实目标框的中心点，表示预测目标框的中心点，为真实目标框的高斯分布表示下的半正定实对称的协方差矩阵，为预测目标框的高斯分布表示下的半正定实对称的协方差矩阵；表示求矩阵的迹； 目标框的坐标表示为，目标框的高斯分布表示为；其中高斯表示和坐标表示可根据下列公式转换： ； ； 其中表示的是目标框的中心点坐标，分别表示其宽和高，为目标框的倾斜角度； 当对求导时，设置，得到： ； 其中表示预测目标框的与真实目标框的KLD值，表示预测目标框的中心点，分别表示真实目标框宽和高，分别表示轴上的自变量的改变量和轴上的自变量的改变量； 第六步，根据获得修正信息和分类分数确定异常位置和异常类型。

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