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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116805305B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310697437.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备是由李沁阳;吴楚澔;计效园;周圣智;李硕宏;董淏;李宁;殷亚军;周建新;高亮设计研发完成，并于2023-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备，包括：确定图像内的缺陷种类和位置；缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷；针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，将密集的缺陷进行合并；针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，将被重复标记或者分段标记的缺陷进行合并。本发明分别设计了不同的缺陷合并方式，将密集出现的缺陷或者被重复和分段识别的缺陷进行合并。此外，本发明设计了缺陷扩充的方式，以避免缺陷检测不完整，减少缺陷区域漏检的情况。本发明通过设计不同的缺陷合并和缺陷扩充，提高了缺陷检测的精度，实现了缺陷的精准识别。

本发明授权一种探伤图像缺陷的处理方法、系统及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种探伤图像缺陷的处理方法，其特征在于，包括以下步骤： 确定图像内的缺陷种类和位置；所述缺陷包括第一类缺陷和第二类缺陷，第一类缺陷为尺寸跨度未超出阈值且密集出现的缺陷，第二类缺陷为尺寸跨度超出阈值的缺陷； 针对第一类缺陷内的任意一种缺陷，以任意一个缺陷的标注框中心为圆心，对角线长为半径做圆，将圆内所有与圆重叠面积大于原标注框面积预设比例的标注框打上标签，并对打上标签的标注框重复上述做圆和打标签的操作，直至找不出能够打标签的标注框，之后构建一个最小标注框将所有打标签的标注框覆盖，以将第一类缺陷内的同种缺陷合并； 针对第二类缺陷内的任意一种缺陷，若任意两个缺陷标注框的最短距离小于面积相对较小标注框对角线长的预设比例，则将两个缺陷的标注框统一尺寸，之后分别计算标注框像素灰度的哈希值，并根据哈希值计算两个标注框的汉明距离；若某个缺陷标注框与至少一个标注框的汉明距离小于预设距离，则构建一个最小标注框将该缺陷的标注框与所有与其汉明距离小于预设值的标注框覆盖，以将第二类缺陷内的同种缺陷合并； 其中，对同种缺陷进行合并之前或者合并之后，还包括如下步骤： 对于单个缺陷的标注框，将标注框的面积扩充，之后对扩充后的标注框进行缺陷轮廓检测，若扩充后缺陷轮廓区域面积相比扩充前缺陷轮廓区域面积的第一比值超出预设比值，则将扩充后的标注框作为新的标注框，且重复上述标注框面积扩充、缺陷轮廓检测及缺陷轮廓面积对比操作，直至第一比值未超出预设比值；所述预设比值与标注框面积扩充的比例相关。

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