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中国科学院上海光学精密机械研究所卞耀明获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种基于部分场景先验的散射成像方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116309131B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310135901.0,技术领域涉及:G06T5/90;该发明授权一种基于部分场景先验的散射成像方法是由卞耀明;司徒国海;刘海山;袁海明;黎思腾;黄汶欣设计研发完成,并于2023-02-20向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于部分场景先验的散射成像方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于部分场景先验的散射成像方法,采用成像镜头、先验靶标、监控相机,通过在传统大气散射模型的基础上对噪声部分构建概率模型修正,通过监控场景中的预设先验靶标进行噪声估计,根据这一估计开发相应算法恢复视场监控区域的图像,从而实现一定程度上的穿云透雾成像。本发明相较于传统图像增强算法,不需要灰度拉伸,从物理模型直接恢复高对比度图像;相较于传统图像复原算法,本发明可以恢复超能见度范围的人眼不可见图像。

本发明授权一种基于部分场景先验的散射成像方法在权利要求书中公布了:1.一种基于部分场景先验的散射成像方法,其特征在于,包括如下步骤: ①在成像场景中设置先验靶标,通过分析先验靶标在雾天的退化特性,估计噪声的分布概率模型和参数,所述参数包括能见度、噪声类型、均值和方差,具体如下: 在采集到的有雾图像中截取先验靶标区域Ipriorx,公式如下: Ipriorx=Jpriorx*tx+NA1-tx 式中,Jpriorx为采集到的有雾图像中截取的先验靶标反光图案区域,x为图像像素的空间位置坐标,tx为空间位置坐标x处的透射率,A是全局大气光,即无穷远处的大气散射光,NA1-tx为修正的噪声分布概率模型; 估计先验靶标的纯黑背景区域亮度均值其方差记作varIairlight; 估计先验靶标反光图案区域的亮度均值公式如下: 式中,为散射前先验靶标反光图案区域强度均值, 估计空间位置坐标x处的透射率tx,公式如下: ②构建同类型噪声反解未知区域的图像信息: 根据先验靶标纯黑背景区域的亮度均值和方差varIairlight,构造同参数随机噪声: 其频谱分布为: F′niose=F{N'A1-tx} 根据以上构造的同类型的噪声反解未知监控场景的清晰图Jtarget: 其中Itarget为雾图中未知监测场景区域; ③在允许帧率下反复多次求解,根据上一步估计的噪声参数,反复随机生成n个同类型噪声NiA1-txi=1,2…n,迭代求解多次,并且保存图像至本地,最后对上一步多次求解的结果叠加取平均,得到优化的恢复结果图SJtarget: 其中,Finiose为多次估计噪声NiA1-tx的频谱分布。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海光学精密机械研究所,其通讯地址为:201800 上海市嘉定区清河路390号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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