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龙图腾网获悉深圳思谋信息科技有限公司申请的专利薄膜缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115760723B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211371837.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权薄膜缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质是由陈鹏光;刘枢;吕江波;沈小勇;颜泽鑫设计研发完成，并于2022-11-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本薄膜缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种薄膜缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括：对获取的原始图片进行粗定位，得到目标薄膜图像；其中，原始图片为对介质薄膜拍摄得到的图片；目标薄膜图像包括介质薄膜主体的感兴趣区域的图像；识别目标薄膜图像中目标结构部位的目标关键点；目标结构部位是介质薄膜中用于缺陷检测的结构部位；基于目标关键点对目标结构部位进行角度识别，得到角度识别结果；基于角度识别结果，确定介质薄膜的缺陷检测结果。采用本方法能够提高薄膜缺陷检测的准确性和效率。

本发明授权薄膜缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种薄膜缺陷检测方法，其特征在于，包括： 对获取的原始图片进行粗定位，得到目标薄膜图像；其中，所述原始图片为对介质薄膜拍摄得到的图片；所述目标薄膜图像包括介质薄膜主体的感兴趣区域的图像；所述对获取的原始图片进行粗定位，得到目标薄膜图像，包括： 按照圆图像检测条件对获取的原始图片进行圆图像检测； 在检测到符合所述圆图像检测条件的圆图像的情况下，根据检测到的所述圆图像的圆心坐标，确定所述介质薄膜的中心点坐标； 根据所述中心点坐标和预设标准半径，从所述原始图片中粗定位得到目标薄膜图像； 识别所述目标薄膜图像中目标结构部位的目标关键点；所述目标结构部位是所述介质薄膜中用于缺陷检测的结构部位；所述介质薄膜包括把手结构和圆环结构；所述目标结构部位为所述把手结构；所述目标关键点是所述把手结构与所述圆环结构的两个交界点； 所述识别所述目标薄膜图像中目标结构部位的目标关键点，包括： 预测所述目标薄膜图像中各像素点属于所述交界点的概率； 从所述各像素点中选取属于所述交界点的概率最大的两个像素点作为所述两个交界点；两个目标关键点为所述把手结构与所述圆环结构的所述两个交界点；基于所述目标关键点对所述目标结构部位进行角度识别，得到角度识别结果；所述目标关键点为两个；所述基于所述目标关键点对所述目标结构部位进行角度识别，得到角度识别结果，包括： 根据两个所述目标关键点的坐标和所述介质薄膜的中心点坐标，得到两个所述目标关键点与中心点的连线之间的夹角；所述夹角为角度识别结果；基于所述角度识别结果，确定所述介质薄膜的缺陷检测结果。

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