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龙图腾网获悉清华大学申请的专利基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115201199B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210602144.9，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质是由戴琼海;邓超;吴嘉敏设计研发完成，并于2022-05-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质，包括：采集模块，用于采集工业产品的四维扫描光场信息；重建模块，用于利用元成像方法对四维扫描光场信息进行图像重建得到工业产品的三维结构；检测模块，用于检测工业产品的三维结构中的缺陷，得到工业产品的缺陷检测结果，从而快速获得工业产品的三维高分辨光场信息，并精确重建工业产品的三维精细结构以进行缺陷检测，从而实现快速、精确、实时的对工业产品表面进行三维缺陷检测。由此，解决了现有工业检测技术速度较慢，精度不高，且成本昂贵等问题。

本发明授权基于元成像的工业检测系统、方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于元成像的工业检测系统，其特征在于，包括： 采集模块，用于采集工业产品的四维扫描光场信息； 所述采集模块包括： 光学镜头，用于采集所述工业产品的光信号； 微透镜阵列，用于对所述光信号进行成像； 扫描件，用于控制所述微透镜阵列进行空间二维扫描； 传感器，用于接收所述微透镜阵列的成像结果，得到所述工业产品的四维扫描光场信息； 修正模块，用于利用几何光学全局矫正所述四维扫描光场信息中的光学像差，所述修正模块通过光瞳分割的方法，在多维解耦方式中结合波前估计和校正过程，对采集到的数据进行配准算法处理，通过平移不同相空间频率分量的光线传播轨迹实现数字相位调制，并将不同相空间频率分量对应的魏格纳数据进行校准，结合泽尼克函数模拟像差的分布，重建成像系统光瞳函数，进而修正系统光学像差对于采集结果的误差影响； 重建模块，用于利用元成像方法对所述四维扫描光场信息进行图像重建得到所述工业产品的三维结构，其中，所述重建模块通过将高维高分辨空间信息作为不变的空间约束，分别利用不同的空间点扩散函数去更新迭代不同的相空间频率分量，并在传统Richard-Lucy解卷积架构的基础上，利用不同空间频率的信息，同时建模采集图像，将不同的空间频率分布进行数字自适应融合，从而实现四维扫描光场信息重建，得到工业产品的三维精细结构； 检测模块，用于检测所述工业产品的三维结构中的缺陷，得到所述工业产品的缺陷检测结果。

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