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龙图腾网获悉武汉光迅科技股份有限公司申请的专利一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115112952B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210761200.3，技术领域涉及：G01R27/02；该发明授权一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法是由于艳辉;叶杨威;付玉婷;林韬设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法。包括：设定测试阻抗范围，按预设梯度阻抗对测试阻抗范围进行划区，并配置相应阻抗的测试软带；将测试硬板、测试软带，以及PCB板依次连接组成电气下的串接关系，通过测量仪对测试硬板、测试软带，以及PCB板待连接光器件接口的阻抗进行测试，并得出相应的测试关系；通过比对阻抗范围内的不同阻抗的测试软带对PCB板待连接光器件接口的阻抗影响，获取PCB板待连接光器件接口阻抗对应的测试软带的最佳适配阻抗，通过最佳适配阻抗获取PCB板待连接光器件接口阻抗的真实阻抗。本发明基于测量仪特性，设置梯度阻抗的测试软带，获取所有测试软带阻抗测试关系，通过测试关系得出PCB板待连接光器件接口阻抗。

本发明授权一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量PCB板待连接光器件接口阻抗的方法，其特征在于，包括： 设定测试软带的测试阻抗范围，按预设梯度阻抗对测试阻抗范围进行划区，并配置相应阻抗的测试软带； 将测试硬板、测试软带，以及PCB板依次连接组成电气下的串接关系，通过测量分析仪发射的电波信号对测试硬板、测试软带，以及PCB板待连接光器件接口的阻抗进行扫描测试，并得出相应的测试关系； 通过比对阻抗范围内所配置阻抗的测试软带对PCB板待连接光器件接口的阻抗影响，获取PCB板待连接光器件接口阻抗对应的测试软带的最佳适配阻抗，并通过最佳适配阻抗获取PCB板待连接光器件接口阻抗的真实阻抗；包括：根据测量仪器的特性，从测试阻抗范围内的测试软带的所有测试关系中，找出影响PCB板待连接光器件接口阻抗测量值偏高的测试软带，找出影响PCB板待连接光器件接口阻抗测量值偏低的测试软带，以及找出PCB板待连接光器件接口阻抗测量值接近的测试软带；通过取平均值的方式获取测试软带的最佳适配阻抗。

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