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龙图腾网获悉泰克诺探头公司申请的专利具有增强滤波特性的用于电子器件的测试装置的探头获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115015604B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210612911.4，技术领域涉及：G01R1/073；该发明授权具有增强滤波特性的用于电子器件的测试装置的探头是由弗拉维奥·马焦尼设计研发完成，并于2017-12-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本具有增强滤波特性的用于电子器件的测试装置的探头在说明书摘要公布了：本申请描述了一种探头20，该探头包括多个接触探针21A，21B，21C，该多个接触探针滑动地容纳在相应的多个导引孔25A，27A，29A，36A；25B，27B，29B，36B；28C，29C，36C中，该多个导引孔在板状支撑件22中实现，该多个接触探针21A，21B，21C包括至少第一组承载接地和电源信号GND，PWR的接触探针21A，21B。合适地，该探头20包括至少一个滤波电容器30，该滤波电容器具有至少一个电容器板31，该电容器板电连接到导电部分22A，27A，该导电部分在支撑件22上实现并包括第一组的接触探针21A，21B的至少一个壳体导引孔25A，29A。

本发明授权具有增强滤波特性的用于电子器件的测试装置的探头在权利要求书中公布了：1.一种探头20，包括板状支撑件22和多个接触探针21A，21B，21C，所述多个接触探针容纳在相应的多个导引孔中25A，27A，29A，36A；25B，27B，29B，36B；28C，29C，36C，所述多个导引孔在所述板状支撑件22中实现，所述多个接触探针21A，21B，21C在通过探头20执行的测试操作期间进行移动时在所述多个导引孔25A，27A，29A，36A；25B，27B，29B，36B；28C，29C，36C内滑动，所述多个接触探针21A，21B，21C包括至少第一组的接触探针21A，21B，所述第一组的接触探针适于承载选自接地和电源信号的仅一种类型的信号，所述探头20包括至少一个滤波电容器30,30A,30B并至少包括第一导电部分22A，27A和第二导电部分22B，26A，所述第一导电部分和所述第二导电部分在所述板状支撑件22上实现并且包括容纳所述第一组的所述接触探针21A，21B的多个导引孔25A，29A；25B，28B，所述第一导电部分22A，27A和所述第二导电部分22B，26A电连接所述第一组的所述接触探针21A，21B， 所述探头20的特征在于，所述板状支撑件22至少包括容纳所述滤波电容器30,30A,30B的容纳座33，所述第一导电部分22A和所述第二导电部分22B也相应于所述容纳座33延伸，以实现与所述滤波电容器30,30A,30B的连接，所述滤波电容器30,30A,30B具有连接到所述第一导电部分22A的第一电容器板31和连接到所述第二导电部分22B的第二电容器板32，所述第一导电部分22A和所述第二导电部分22B适于连接到选自电源基准和接地基准的相应的不同电压基准， 其特征还在于，所述板状支撑件22是容纳所述接触探针21A，21B，21C的一对支撑件中的下支撑件，下是指更靠近在集成在晶片上的被测器件23，所述滤波电容器30,30A,30B以这种方式定位在所述接触探针21A，21B，21C的接触尖端附近，所述接触尖端适于邻接到所述被测器件23的接触垫23A，23B。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人泰克诺探头公司，其通讯地址为：意大利莱科；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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