复旦大学吴泽昊获国家专利权
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龙图腾网获悉复旦大学申请的专利针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114527372B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210146483.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置是由吴泽昊;蔡畅;沈磊;俞军;王树;徐灵炎;宁冰旭;沈鸣杰;徐烈伟设计研发完成，并于2022-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及集成电路技术领域，特别涉及一种针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置，其中，方法包括：利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码；在作为待测试设备的第二FPGA器件传输第一SBS码的过程中，控制第一FPGA器件使得第一SBS码接受辐射，并检测辐射后目标码型的第二SBS码；参照第二SBS码，统计SBS的误码数量和错误类型，生成单粒子效应测试结果。由此，解决了相关技术中对于FPGA器件SerDes模块测试的稳定性低、精确度不高、实时性较差，且测试适用性较差等问题。
本发明授权针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码；在利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码之前，还包括：检测第二FPGA器件SerDes模块是否处于近端回环模式；在检测到处于所述近端回环模式后，在所述SerDes模块上设置用于屏蔽其他部分的逻辑窗口； 在作为待测试设备的第二FPGA器件传输所述第一SBS码的过程中，控制所述第一FPGA器件使得所述第一SBS码接受辐射，并检测辐射后所述目标码型的第二SBS码；以及 参照所述第二SBS码，统计SBS的误码数量和错误类型，生成单粒子效应测试结果。
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