涌淳半导体(无锡)有限公司曹晓光获国家专利权
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龙图腾网获悉涌淳半导体(无锡)有限公司申请的专利一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223755985U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520055052.2，技术领域涉及：G01B11/06；该实用新型一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪是由曹晓光;李峰;邵秋新;张同雷设计研发完成，并于2025-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪在说明书摘要公布了：本实用新型涉及薄膜测量仪技术领域，尤其涉及一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪，包括测量仪，所述测量仪上端设有调节组件，所述调节组件包括设于所述测量仪上端的测量平台，所述测量平台下端中部连接有转盘，所述转盘下端四角连接有四组相对称的调节杆。第一磁铁和第二磁铁将薄膜固定在调节框内，缓慢转动蜗杆，调节块相互远离，从而被固定在第一磁铁和第二磁铁之间的薄膜四边向外缓慢展开，在展开的过程中，可以单独转动螺杆推动调节框沿着固定框滑动，使得薄膜四边展开的横向距离相同，通过上述操作，工作人员不断的进行微调，使得薄膜平整的展现在测量平台上端，避免在测量过程中薄膜有褶皱，影响测量的准确性。
本实用新型一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪在权利要求书中公布了：1.一种用于薄膜厚度检测的厚度测量仪，包括测量仪1，其特征在于：所述测量仪1上端设有调节组件2，所述调节组件2包括设于所述测量仪1上端的测量平台21，所述测量平台21下端中部连接有转盘22，所述转盘22下端四角连接有四组相对称的调节杆23，所述调节杆23上端设有调节块24，所述转盘22下端中部设有转杆26，所述调节块24上端设有限位组件3，所述限位组件3包括设于所述调节块24上端的固定框301，所述固定框301中端插设有调节框302，所述调节框302上端内壁设有套管303，所述套管303内壁插设有第一活塞304，所述第一活塞304下端连接有插杆305，所述插杆305下端设有第一磁铁306，所述调节框302位于第一磁铁306下端内壁设有第二磁铁307，所述测量仪1上端设有光学镜头4。
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