北京量子信息科学研究院王文明获国家专利权
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龙图腾网获悉北京量子信息科学研究院申请的专利磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120993290B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511484019.2，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法及装置是由王文明设计研发完成，并于2025-10-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法及装置在说明书摘要公布了：本申请提供一种磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法及装置，涉及磁屏蔽组件屏蔽效能评估技术领域。磁屏蔽组件放置在亥姆赫兹线圈的轴线中心，评估方法包括：在亥姆赫兹线圈空载的情况下，以第一设定步长测量N个磁屏蔽组件内部的磁场值，获得空载磁场值；控制恒流源输出电流，以使亥姆赫兹线圈产生工作磁场；在亥姆赫兹线圈产生工作磁场的情况下，重新以第一设定步长测量N个磁屏蔽组件内部的磁场值，获得加载磁场值；根据磁屏蔽组件同一位置的空载磁场值和加载磁场值，计算磁屏蔽组件的内部磁场差值；根据内部磁场差值和工作磁场计算磁屏蔽组件的屏蔽效能值，以确定磁屏蔽组件的屏蔽效能是否合格。本申请能够实现磁屏蔽组件装配前的高效、精准评估。
本发明授权磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种磁屏蔽组件屏蔽效能的评估方法，其特征在于，所述磁屏蔽组件放置在亥姆赫兹线圈的轴线中心，所述评估方法包括： 在所述亥姆赫兹线圈空载的情况下，以第一设定步长测量N个所述磁屏蔽组件内部的磁场值，获得空载磁场值，其中，N为大于等于2的整数； 控制恒流源输出电流，以使所述亥姆赫兹线圈产生工作磁场； 在所述亥姆赫兹线圈产生所述工作磁场的情况下，重新以所述第一设定步长测量所述N个磁屏蔽组件内部的磁场值，获得加载磁场值； 根据所述磁屏蔽组件同一位置的所述空载磁场值和所述加载磁场值，计算所述磁屏蔽组件的内部磁场差值； 根据所述内部磁场差值和所述工作磁场计算所述磁屏蔽组件的屏蔽效能值； 根据所述屏蔽效能值，确定所述磁屏蔽组件的屏蔽效能是否合格。
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