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龙图腾网获悉度亘核芯光电技术(苏州)股份有限公司申请的专利一种芯片测试装置和测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120891361B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511434029.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试装置和测试系统及方法是由王聪;刘育衔;杨国文;张宏华;金雨豪;刘棚棚设计研发完成，并于2025-10-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试装置和测试系统及方法在说明书摘要公布了：一种芯片测试装置和测试系统及方法，涉及芯片技术领域。芯片测试装置包括散热基座和下压装置，下压装置包括两个电极连接块，每个电极连接块连接有至少两个导电柱；每个电极连接块的底面在抵压芯片顶部电极时均于芯片上形成有对应的受力中心，每个电极连接块上分别至少有一个导电柱的轴心线靠近对应的受力中心，每个电极连接块上分别靠近受力中心的导电柱均套设有弹性元件。需要说明的是，本申请实施例中，通过合理配置电极连接块的结构特征以及其与导电柱和弹性元件的相对位置关系，解决了电极连接块的压平问题，同时在缓冲电极连接块下压力的基础上，降低冷却水从散热基座周围溢出的可能性，提高出光功率测试准确性，降低芯片烧毁的危险。

本发明授权一种芯片测试装置和测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试装置，其特征在于，其包括： 散热基座101，所述散热基座101支撑于芯片102底部； 下压装置130，所述下压装置130包括两个电极连接块1302，两个所述电极连接块1302对称设置，每个所述电极连接块1302连接有至少两个导电柱1301；每个所述电极连接块1302的底面在抵压所述芯片102顶部电极时均于所述芯片102上形成有对应的受力中心，每个所述电极连接块1302上分别至少有一个所述导电柱1301的轴心线靠近对应的受力中心，并且每个所述电极连接块1302上分别靠近所述受力中心的所述导电柱1301均套设有弹性元件13011，所述弹性元件13011的底部抵压于所述电极连接块1302顶部； 两个所述电极连接块1302均为偏心电极结构，所述偏心电极结构的重心偏向于对应所述电极连接块1302的所述受力中心，并且所述偏心电极结构的底面面积小于所述偏心电极结构的顶面面积。

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