中山大学杨扬获国家专利权
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龙图腾网获悉中山大学申请的专利电致圆偏振发光器件性能测试系统及测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120847529B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511349295.8,技术领域涉及:G01R31/00;该发明授权电致圆偏振发光器件性能测试系统及测试方法是由杨扬;罗富元;缪卓华;徐锐;万家钰设计研发完成,并于2025-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本电致圆偏振发光器件性能测试系统及测试方法在说明书摘要公布了:本发明涉及光学性能测试技术领域,公开了一种电致圆偏振发光器件性能测试系统及测试方法,本系统通过将电学性能测量模块和光学性能模块集为一体,通过源表为待测圆偏振发光器件持续提供测试所需的电信号,并通过将电信号传输至测试终端,从而根据电信号确定待测圆偏振发光器件的电学性能参数,还通过第一积分球收集待测圆偏振发光器件的发散光子,并传输至第一光谱仪,得到待测圆偏振发光器件的发光光谱信息,通过测试终端根据发光光谱信息确定待测圆偏振发光器件的光学性能参数,从而将圆偏振发光器件的电学性能测量和光学性能测量集为一体进行同步测量,从而避免了后期数据计算并处理的过程过于繁琐。
本发明授权电致圆偏振发光器件性能测试系统及测试方法在权利要求书中公布了:1.一种电致圆偏振发光器件性能测试系统,其特征在于,包括:电学性能测量模块1、光学性能模块3和测试终端4; 所述电学性能测量模块1包括源表101和用于夹持待测圆偏振发光器件的器件夹具102,所述源表101的两侧分别与所述待测圆偏振发光器件和所述测试终端4连接,所述源表101用于为所述待测圆偏振发光器件持续提供测试所需的电信号,并使所述待测圆偏振发光器件发出发散光子,还用于将所述电信号传输至所述测试终端4; 所述光学性能模块3包括第一积分球302以及与所述第一积分球302连接的第一光谱仪304;所述第一积分球302收集所述待测圆偏振发光器件发出的所述发散光子,并传输至所述第一光谱仪304;所述第一光谱仪304用于探测所述发散光子的第一光谱信息,并将所述第一光谱信息传输至所述测试终端4; 所述测试终端4用于根据所述电信号和所述第一光谱信息,分别确定所述待测圆偏振发光器件的电学性能参数和光学性能参数。
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