芯卓科技(浙江)有限公司刘俊良获国家专利权
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龙图腾网获悉芯卓科技(浙江)有限公司申请的专利测试探针、探针卡和测试探针制造方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120405195B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510600211.7，技术领域涉及：G01R1/067；该发明授权测试探针、探针卡和测试探针制造方法是由刘俊良;陈和也;洪志纬;千圣武设计研发完成，并于2025-05-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试探针、探针卡和测试探针制造方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片检测技术领域，具体涉及测试探针、探针卡和测试探针制造方法。该测试探针包括探针本体，探针本体的外部设有镀覆层，镀覆层包含至少两种元素的；其中，在镀覆层的厚度方向上，镀覆层中的至少两种元素的含量呈连续线性变化，以使镀覆层的传导系数和抗变形系数在镀覆层的厚度方向上呈连续线性变化。在本发明中，对传导系数和抗变形系数产生影响的所有元素均存在于同一个镀覆层中，即这些元素连接形成一个整体，相对于现有技术中两种堆叠设置的合金镀覆层，本发明的镀覆层更加牢固，测试探针的反复弯曲形变不会导致镀覆层本身发生分离，从而避免了测试探针的整体性能降低。
本发明授权测试探针、探针卡和测试探针制造方法在权利要求书中公布了：1.一种测试探针，其特征在于，包括探针本体1，所述探针本体1的外部设有镀覆层2，所述镀覆层2包含至少两种金属元素； 其中，在所述镀覆层2的厚度方向上，所述镀覆层2中的至少两种金属元素的含量呈连续线性变化，以使所述镀覆层2的传导系数和抗变形系数在所述镀覆层2的厚度方向上呈连续线性变化； 所述镀覆层2整体为单层结构，对传导系数和抗变形系数产生影响的所有元素均存在于同一个所述镀覆层2中，即这些元素连接形成一个牢固的整体，使所述镀覆层2能够同时优化所述探针本体1的传导性能和抗变形性能。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯卓科技(浙江)有限公司，其通讯地址为：322008 浙江省金华市义乌市后宅街道净居东路201号3号楼1-3层(自主申报)；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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