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龙图腾网获悉浙江工业大学申请的专利基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471045B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411468319.7，技术领域涉及：G01R23/16；该发明授权基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法是由黄国兴;盛文豪;阳鹏;卢为党;张昱;彭宏设计研发完成，并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法在说明书摘要公布了：一种基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法，包括以下步骤：步骤一、对脉冲序列和基脉冲进行数学建模；步骤二、结合脉冲序列的特征，对信号的采样结构进行设计；步骤三、脉冲序列的频谱搬移过；步骤四、基脉冲的频谱搬移过程；步骤五、脉冲序列和基脉冲的采样核滤波、低速采样过程；步骤六，消除滤波器的非理想效应，恢复出脉冲序列。本发明降低了采样系统的采样率，同时提高了欠采样系统的灵活性。根据两个通道获取的采样样本之间的相关性，消除掉非理想LPF对参数恢复精度的影响，有效的提高了系统的参数重构性能。

本发明授权基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于频谱扩展的双通道FRI欠采样与参数测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 步骤一、对脉冲序列和基脉冲进行数学建模：假设待测信号是由一系列的脉冲信号组成，其中基脉冲信号ht的脉冲形状是已知的，L是脉冲序列信号st中包含基脉冲信号的个数，是待测信号中脉冲序列的幅值和时延，是未知的，需要通过采样结构和重构算法恢复出这些参数，进而重构出脉冲序列； 步骤二、结合脉冲序列的特征，对信号的采样结构进行设计，为了能够提高系统的通用性以及避免单个通道采样结构相对局限的问题；设计了一种双通道并行的采样结构，对所提出的采样结构进行对应的参数设置； 步骤三、脉冲序列的频谱搬移过程，根据所提出的采样结构，需要使用伪随机序列对脉冲序列进行频谱搬移，将信号主要频带上的信息均匀的分布到整个频域轴上； 步骤四、基脉冲的频谱搬移过程，根据所提出的采样结构，使用余弦信号qt＝cos2πft对基脉冲进行频谱搬移，将信号主要频带上的信息搬移到低频上； 步骤五、脉冲序列和基脉冲的采样核滤波、低速采样过程，根据所提出的采样结构，需要对脉冲序列和基脉冲进行采样核滤波，获取信号基带的频域信息，最后对采样得到的样本进行离散傅里叶变换DFT得到对应的离散傅里叶系数s2[n]和h2[n]； 步骤六，消除滤波器的非理想效应，恢复出脉冲序列，通过获取的样本s2[n]和h2[n]可以实现消除LPF非理想效应的目的，然后重构出脉冲序列。

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