中国科学院上海光学精密机械研究所晋云霞获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116698365B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310509612.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法是由晋云霞;莫建威;董元植;孔钒宇;邵建达设计研发完成，并于2023-05-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法，包括构建测量光路；开启激光器和能量探测器；通过调整角度调节台和平移台控制待测啁啾体光栅样品与激光器输出光束的夹角和相对位置，记录啁啾体光栅发生衍射时的角度和位置，并计算角度平均值；根据公式计算得到待测啁啾体光栅样品的啁啾率。本发明测量原理简单，计算方法明了，可实现对任意规格啁啾体光栅的啁啾率测量。
本发明授权一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法在权利要求书中公布了：1.一种啁啾体光栅的啁啾率测量方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：构建测量光路：沿激光器1的光轴方向，同光轴依次放置待测啁啾体光栅样品4和能量探测器5，所述待测啁啾体光栅样品4固定放置在平移台3上，该平移台3固定在角度调节台2上； S2：开启激光器1，使激光器输出光束入射在待测啁啾体光栅样品4上；开启能量探测器5，对经过待测啁啾体光栅样品4后的光束能量变化进行实时监测并记录相应的数据； S3：将激光器1的输出光束入射至待测啁啾体光栅样品4的位置参数记为z1，通过角度调节台2旋转待测啁啾体光栅样品4，当能量探测器5采集到的透射光束能量骤减时，记录此时角度调节台2已转过的角度大小θ1；将角度调节台2复位，多次重复测量θ1，记录并计算平均值 S4：将角度调节台2复位，通过平移台3调整激光器1的输出光束入射至待测啁啾体光栅样品4的位置，位置参数记为z2；重复步骤S3，记录经多次重复测量获得的角度调节台2已转过的角度大小θ2，并计算平均值 S5：计算待测啁啾体光栅样品4的啁啾率C，公式如下： 式中，λ为激光器1的波长，n为待测啁啾体光栅样品4折射率，为待测啁啾体光栅样品4的光栅矢量倾斜角，将计算值作为待测啁啾体光栅样品4的啁啾率。
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