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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116659812B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310677309.3，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置是由黄良金;陈潇;黄善旻;安毅;李浩博;唐仕晴;崔梦凡;吴函烁;杨欢;闫志平;潘志勇;杨轶;王泽锋;周朴;姜宗福;陈金宝设计研发完成，并于2023-06-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置。方法包括：将目标应用波段内不同波长的单横模激光光束以等波长间隔入射待测光纤，得到待测光纤在各个波长下的光斑图样，进而得到行列大小分别为光斑图样像素点数和采样波长数目的二维测量矩阵，对二维测量矩阵每一行数据进行傅里叶变换后相加，以得到第一高阶模相对基模的差分模式群时延测试值；根据待测光纤传输的高阶模对应的差分模式群时延理论值随纤芯‑包层折射率差变化的查找表，查找在待测光纤的纤芯直径下，最接近差分群时延测试值的差分群时延理论值，得到待测光纤的纤芯‑包层折射率差。采用本方法可实现高效、精确、非侵入的长链路光纤纤芯‑包层折射率差测量。

本发明授权光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种光纤纤芯与包层的相对折射率差的测量方法，其特征在于，所述方法包括： 利用可调谐激光光源将目标应用波段内不同波长的单横模激光光束以等波长间隔入射待测光纤输入端，在光纤输出端得到待测光纤在各个波长下的光斑图样；所述待测光纤为长光纤；所述待测光纤至少传输基模和第一高阶模两种纤芯模式，在此基础上高阶模数量可进一步增加； 提取所述各个波长下光斑图样的各个像素点强度数据，得到行列大小分别为光斑图样像素点数和采样波长数目的二维测量矩阵，对所述二维测量矩阵每一行数据进行傅里叶变换后相加，得到傅里叶变换结果； 根据所述傅里叶变换结果中所述第一高阶模的特征峰，得到所述第一高阶模相对基模的差分模式群时延测试值； 根据待测光纤传输的高阶模，建立所述高阶模对应的差分模式群时延理论值随纤芯-包层折射率差变化的查找表，根据所述查找表查找在所述待测光纤的纤芯直径下，与差分群时延测试值最接近的差分群时延理论值，得到待测光纤的纤芯-包层折射率差。

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